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公开(公告)号:CN116380733A
公开(公告)日:2023-07-04
申请号:CN202310380272.8
申请日:2023-04-11
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种颗粒粒径和混合比测量方法、装置、电子设备及存储介质,包括:通过对混合有第一固体颗粒和第二固体颗粒的两相系统进行消光法测量获取对应的实验消光谱,第一固体颗粒和第二固体颗粒为两种不同类型的固体颗粒。通过计算获取第一固体颗粒和第二固体颗粒在光波作用下的消光系数。通过计算获取第一固体颗粒和第二固体颗粒的反照率,并判断对应光子是否被散射。若光子被散射,则获取光子发生散射时的散射角以及光子发生相邻两次散射之间的随机自由步长。根据光子的出射方向,通过计算获取混合有第一固体颗粒和第二固体颗粒的两相系统对应的理论消光谱。基于实验消光谱和理论消光谱获取目标函数,求解固体颗粒的粒径和混合数目比。
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公开(公告)号:CN117804983A
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202410004640.3
申请日:2024-01-03
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01N15/0205 , G01N15/075
Abstract: 本发明提供了一种基于蒙特卡罗法测量高遮光度两相流颗粒相粒径的方法,步骤如下:步骤S1:测量高遮光度的两相系统获取散射光能分布和遮光度;步骤S2:通过所述遮光度获得两相流体系颗粒浓度;步骤S3:将所述两相流体系颗粒浓度导入蒙特卡罗模型计算获得光能系数矩阵;步骤S4:将所述光能系数矩阵和所述散射光能分布导入反演算法计算固体颗粒的粒径。本发明通过对高遮光度的两相系统提取散射光能分布和遮光度,结合蒙特卡罗模型预测结果建立遮光度与浓度之间的对应关系,获得两相体系颗粒相浓度,导入蒙特卡罗模型计算系数矩阵,将系数矩阵及测量得到的散射光能分布带入反演算法,准确反演高遮光度两相体系中颗粒相粒径。
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