公开(公告)号：CN102750223B

公开(公告)日：2015-07-29

申请号：CN201210184233.2

申请日：2012-06-06

Applicant: 东南大学

Inventor： 李必信 ,  文万志

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公布了一种基于面向对象程序切片谱的错误定位方法，首先我们根据源程序构造面向对象程序依赖图，然后结合测试历史中提取的失效测试信息提取错误相关切片，根据错误相关切片和测试历史信息中提取的测试覆盖信息构造面向对象程序切片谱矩阵，最后基于面向对象程序切片谱矩阵度量错误相关切片中每个元素的可疑度，并根据可疑度大小顺序定位到错误位置。本发明的基于面向对象程序切片谱的错误定位方法效率更高。

公开(公告)号：CN102750223A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210184233.2

申请日：2012-06-06

Applicant: 东南大学

Inventor： 李必信 ,  文万志

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公布了一种基于面向对象程序切片谱的错误定位方法，首先我们根据源程序构造面向对象程序依赖图，然后结合测试历史中提取的失效测试信息提取错误相关切片，根据错误相关切片和测试历史信息中提取的测试覆盖信息构造面向对象程序切片谱矩阵，最后基于面向对象程序切片谱矩阵度量错误相关切片中每个元素的可疑度，并根据可疑度大小顺序定位到错误位置。本发明的基于面向对象程序切片谱的错误定位方法效率更高。

公开(公告)号：CN101859276B

公开(公告)日：2012-02-22

申请号：CN201010173787.3

申请日：2010-05-14

Applicant: 东南大学

Inventor： 陶传奇 ,  李必信 ,  周颖 ,  孙小兵 ,  文万志

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公布了一种基于层次切片的回归测试用例选择方法，利用切片技术在程序分解中的作用以及层次切片技术在面向对象程序中的优势，并且结合回归测试用例选择的特点，将层次切片技术应用其中。从版本修改信息中抽取层次切片准则。在包层次上，获取原测试用例的包层次覆盖，选择出能够覆盖包层次切片集的测试用例；在类层次上，获取包级测试用例的类层次覆盖，在包级测试用例中选择出能够覆盖类层次切片集的测试用例；在方法层次上，获取类级测试用例的方法层次覆盖，在类级测试用例中选择出能够覆盖方法层次切片集的测试用例；在语句层次上，获取方法级测试用例的语句层次覆盖，在方法级测试用例中选择出能够覆盖语句层次切片集的测试用例。

公开(公告)号：CN101859276A

公开(公告)日：2010-10-13

申请号：CN201010173787.3

申请日：2010-05-14

Applicant: 东南大学

Inventor： 陶传奇 ,  李必信 ,  周颖 ,  孙小兵 ,  文万志

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公布了一种基于层次切片的回归测试用例选择方法，利用切片技术在程序分解中的作用以及层次切片技术在面向对象程序中的优势，并且结合回归测试用例选择的特点，将层次切片技术应用其中。从版本修改信息中抽取层次切片准则。在包层次上，获取原测试用例的包层次覆盖，选择出能够覆盖包层次切片集的测试用例；在类层次上，获取包级测试用例的类层次覆盖，在包级测试用例中选择出能够覆盖类层次切片集的测试用例；在方法层次上，获取类级测试用例的方法层次覆盖，在类级测试用例中选择出能够覆盖方法层次切片集的测试用例；在语句层次上，获取方法级测试用例的语句层次覆盖，在方法级测试用例中选择出能够覆盖语句层次切片集的测试用例。