一种自适应探测模式的光子计数线阵读出电路及方法

    公开(公告)号:CN107449516A

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201710546010.9

    申请日:2017-07-06

    Applicant: 东南大学

    CPC classification number: G01J11/00

    Abstract: 本发明公开了一种自适应探测模式的光子计数线阵读出电路及方法,包括同步模块及由若干像素单元组成的像素阵列,所述每个像素单元包括APD探测器、接口电路、计数器、存储器以及死区时间可调电路;所述死区时间可调电路,用于根据接收的标准脉冲电压计数信号状态经延迟时间后产生使得接口电路复位的复位信号,且根据接收的当前曝光时间内像素的计数值即当前帧的计数值,根据判别的当前帧计数值的大小产生控制信号以调节下一帧的延迟时间大小。本发明可以判断光强强弱来自动调节死区时间大小,提高检测效率,通过与传感器的配合,可合理应用于大阵列读出电路系统中,进而实现成像应用。

    一种自适应探测模式的光子计数线阵读出电路及方法

    公开(公告)号:CN107449516B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201710546010.9

    申请日:2017-07-06

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种自适应探测模式的光子计数线阵读出电路及方法,包括同步模块及由若干像素单元组成的像素阵列,所述每个像素单元包括APD探测器、接口电路、计数器、存储器以及死区时间可调电路;所述死区时间可调电路,用于根据接收的标准脉冲电压计数信号状态经延迟时间后产生使得接口电路复位的复位信号,且根据接收的当前曝光时间内像素的计数值即当前帧的计数值,根据判别的当前帧计数值的大小产生控制信号以调节下一帧的延迟时间大小。本发明可以判断光强强弱来自动调节死区时间大小,提高检测效率,通过与传感器的配合,可合理应用于大阵列读出电路系统中,进而实现成像应用。

    门控互补型光子计数系统

    公开(公告)号:CN107806931A

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201710918750.0

    申请日:2017-09-30

    Applicant: 东南大学

    CPC classification number: G01J11/00

    Abstract: 本发明公开了一种门控互补型光子计数系统,包括时钟电路模块、主动淬灭检测模块、寄存器模块和处理模块,时钟电路模块包括锁频环电路和非重叠时钟产生模块。主动淬灭检测电路模块包括若干个检测单元,所述每个检测单元包括APD探测器、主动淬灭电路和计数器;对每个检测单元按顺序进行位置排序,位于奇数位置的所有检测单元和位于偶数位置的所有检测单元分别构成两个检测阵列。本发明所提供的互补型光子计数系统,应用在高速单光子计数成像领域,能够有效抑制后脉冲效应、暗计数和检测单元间串扰对探测率带来的不利影响,提高光子计数的探测率和精确度。

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