公开(公告)号：CN118707286B

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202411187174.3

申请日：2024-08-28

申请人： 东莞市通科电子有限公司 ,  佛山市通科电子有限公司

发明人： 钟平权 ,  莫家明 ,  叶家富 ,  胡金权 ,  徐广龙

IPC分类号： G01R31/26

公开(公告)号：CN118707286A

公开(公告)日：2024-09-27

申请号：CN202411187174.3

申请日：2024-08-28

申请人： 东莞市通科电子有限公司 ,  佛山市通科电子有限公司

发明人： 钟平权 ,  莫家明 ,  叶家富 ,  胡金权 ,  徐广龙

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明涉及电数据处理技术领域，具体涉及一种二极管电学特性测试方法，包括：获取在不同变量下快恢复二极管多次测试下的若干种测试采集数据序列；得到每种变量下快恢复二极管的每次测试下的每种测试采集数据序列的稳定性；得到快恢复二极管的每种测试采集数据序列在每种变量下的抗干扰性；结合每种变量下快恢复二极管的每次测试下的每种测试采集数据序列的稳定性，得到每种变量下快恢复二极管的质量指标；得到快恢复二极管的最终质量指标，进而结合第一阈值判断当前快恢复二极管是否符合生产标准。本发明通过多维度对快恢复二极管进行分析，提升了二极管电学特性测试的准确性和可靠性。