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公开(公告)号：CN117929534B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410290392.3
申请日：2024-03-14
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开了一种基于频率‑波数分析的CFRP风电叶片缺陷边缘信息表征方法，涉及超声无损检测技术领域，本发明的目的是解决目前针对CFRP板状结构缺陷边缘检测精度较低的问题，引入二维空间频率‑波数分析方法对CFRP层板缺陷边缘信息进行表征，首先采用单阵元激励超声导波，在待扫描区域构建相控阵阵列采集二维波场信号，结合移动窗方法进行波场截取，通过三维短时傅里叶变换得到不同频率下的局部波束谱，再抽取激励信号对应中心频率的波数谱后进行加权平均得到该局部波场成像特征值，完成所有局部波场分析并进行叠加，最终获得二维空间‑波束谱，实现对CFRP层板中内部缺陷边缘信息的精确表征。
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公开(公告)号：CN115097009A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210765889.7
申请日：2022-06-30
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开一种基于频域调控的超声导波相控阵CFRP缺陷检测方法，涉及无损检测技术领域，本发明的目的解决目前针对大面积复合材料板状结构缺陷检测的快速检测方法较少的问题以及目前常用检测手段只能进行点对点检测、耗时低效、容易出现漏检误检等问题，采用单阵元激发、多阵元阵列接收的方式采集时域位移信号，将时域信号转换至频率‑波数域进行相位调控以实现波场重构，之后再将频域信号再次转换至时域信号，通过计算飞行时间提取特征幅值进行成像，同时该波场重构算法考虑各向异性材料所引起的不同传播角间的相速度差异、能量偏斜效应以及导波衰减不均的影响，实现对复合板多角度缺陷定位与高分辨率成像。
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公开(公告)号：CN115078544B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202210766015.3
申请日：2022-06-30
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开一种基于时域调控的超声导波相控阵CFRP缺陷检测方法，涉及无损检测技术领域，本发明的目的解决在针对大面积复合材料板状结构内部缺陷检测时，缺乏快速有效的检测方法以及目前常用检测手段只能进行点对点检测、耗时低效、容易出现漏检误检等问题，本发明所述方法将导波技术与相控阵技术结合，采用单阵元激发、多阵元阵列接收的方式采集时域位移信号，通过计算导波信号飞行时间并提取对应特征幅值将其作为缺陷成像特征值进行可视化，本方法考虑各向异性材料所引起的不同传播角下异向波群速度差异以及导波衰减不均的影响，实现对复合板多角度内部缺陷定位与高分辨率成像。
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公开(公告)号：CN117929534A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410290392.3
申请日：2024-03-14
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开了一种基于频率‑波数分析的CFRP风电叶片缺陷边缘信息表征方法，涉及超声无损检测技术领域，本发明的目的是解决目前针对CFRP板状结构缺陷边缘检测精度较低的问题，引入二维空间频率‑波数分析方法对CFRP层板缺陷边缘信息进行表征，首先采用单阵元激励超声导波，在待扫描区域构建相控阵阵列采集二维波场信号，结合移动窗方法进行波场截取，通过三维短时傅里叶变换得到不同频率下的局部波束谱，再抽取激励信号对应中心频率的波数谱后进行加权平均得到该局部波场成像特征值，完成所有局部波场分析并进行叠加，最终获得二维空间‑波束谱，实现对CFRP层板中内部缺陷边缘信息的精确表征。
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公开(公告)号：CN115097009B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202210765889.7
申请日：2022-06-30
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开一种基于频域调控的超声导波相控阵CFRP缺陷检测方法，涉及无损检测技术领域，本发明的目的解决目前针对大面积复合材料板状结构缺陷检测的快速检测方法较少的问题以及目前常用检测手段只能进行点对点检测、耗时低效、容易出现漏检误检等问题，采用单阵元激发、多阵元阵列接收的方式采集时域位移信号，将时域信号转换至频率‑波数域进行相位调控以实现波场重构，之后再将频域信号再次转换至时域信号，通过计算飞行时间提取特征幅值进行成像，同时该波场重构算法考虑各向异性材料所引起的不同传播角间的相速度差异、能量偏斜效应以及导波衰减不均的影响，实现对复合板多角度缺陷定位与高分辨率成像。
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公开(公告)号：CN115078544A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210766015.3
申请日：2022-06-30
申请人： 东莞理工学院
摘要： 本发明公开一种基于时域调控的超声导波相控阵CFRP缺陷检测方法，涉及无损检测技术领域，本发明的目的解决在针对大面积复合材料板状结构内部缺陷检测时，缺乏快速有效的检测方法以及目前常用检测手段只能进行点对点检测、耗时低效、容易出现漏检误检等问题，本发明所述方法将导波技术与相控阵技术结合，采用单阵元激发、多阵元阵列接收的方式采集时域位移信号，通过计算导波信号飞行时间并提取对应特征幅值将其作为缺陷成像特征值进行可视化，本方法考虑各向异性材料所引起的不同传播角下异向波群速度差异以及导波衰减不均的影响，实现对复合板多角度内部缺陷定位与高分辨率成像。
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