-
公开(公告)号：CN106872069B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201611221680.5
申请日：2016-12-19
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法，步骤是：(1)、调整光路：使得波长为λ1的激光辐照在待测样品上；(2)、通过透镜的移动调节结构，使波长为λ1的激光辐照在待测样品上有合适的光斑大小；(3)、进行纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤的测量：启动第一激光器、第二激光器、移动平台、能量计及CCD在线损伤判断装置判断待测样品是否出现损伤；(4)、进行损伤过程中表面温度的测量：CCD在线损伤判断装置，启动第三激光器，使波长为λ3的探测激光与波长为λ1的主激光有一定的角度辐照在待测样品上，同时调节两个Si雪崩光电二极管探测器和示波器，记录待测样品表面的热反射信号，以确定样品表面在主激光辐照下损伤破坏过程中的温度变化。
-
公开(公告)号：CN108809266A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810759735.0
申请日：2018-07-11
申请人： 中北大学
IPC分类号： H03F3/70
CPC分类号： H03F3/70
摘要： 本发明为一种电荷放大器电路，解决了传统电荷放大器去噪性能有限、成本过高等问题。本发明电路由三个运放芯片、三个反馈电阻、两个滤波电阻、两个接地电阻、两个滤波电容、七个椭圆滤波电容、三个椭圆滤波电感以及接地电阻、阻抗匹配电阻和反馈电容构成。本发明电荷放大器电路采用三级运放放大结构，可控增益、截止频率和灵敏度，电路结构简易，去噪能力强。在结构上，本发明采用模块化思想，将每个通道做成单独的模块，可以根据需要任选通道数，便携实用，做出的实物成本远低于国内的电荷放大器。
-
公开(公告)号：CN106872069A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201611221680.5
申请日：2016-12-19
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01K11/00
CPC分类号： G01K11/006
摘要： 本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法，步骤是：(1)、调整光路：使得波长为λ1的激光辐照在待测样品上；(2)、通过透镜的移动调节结构，使波长为λ1的激光辐照在待测样品上有合适的光斑大小；(3)、进行纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤的测量：启动第一激光器、第二激光器、移动平台、能量计及CCD在线损伤判断装置判断待测样品是否出现损伤；(4)、进行损伤过程中表面温度的测量：CCD在线损伤判断装置，启动第三激光器，使波长为λ3的探测激光与波长为λ1的主激光有一定的角度辐照在待测样品上，同时调节两个Si雪崩光电二极管探测器和示波器，记录待测样品表面的热反射信号，以确定样品表面在主激光辐照下损伤破坏过程中的温度变化。
-
公开(公告)号：CN106872068B
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201611221679.2
申请日：2016-12-19
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量装置，测量装置包含激光系统，一个位于由计算机控制的移动平台上的待测样品，CCD在线损伤判断装置以及测量热反射信号的两个Si雪崩光电二极管探测器和一个示波器；使用两束不同激光，一束是纳秒脉冲主激光，辐照光学薄膜诱导光学薄膜损伤，另一激光为探测激光，与主激光成一定角度射到样品表面，通过实时检测探测激光在光学薄膜表面的热反射信号来测量光学薄膜在主激光诱导的损伤过程中温度的实时变化。可以实时测量纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤过程中表面的温度，为纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤机理的确定提供实验依据。
-
公开(公告)号：CN106323264A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610636800.1
申请日：2016-08-06
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01C19/72
CPC分类号： G01C19/721 , G01C19/722
摘要： 本发明涉及集成光波导陀螺的谐振腔，具体是一种多缝隙垂直环形表面等离子光波导的光学陀螺谐振腔结构。本发明解决了现有集成光波导陀螺的谐振腔导致陀螺灵敏度低的问题。多缝隙垂直环形表面等离子光波导的光学陀螺谐振腔结构，包括直形光波导、环形光波导、耦合器；直形光波导和环形光波导通过耦合器相互耦合；所述环形光波导由环氧基树脂环形主体和内嵌于环氧基树脂环形主体中的多条金属银环形薄膜构成；各条金属银环形薄膜沿环氧基树脂环形主体的轴线方向平行排列，且相邻两条金属银环形薄膜之间均留有一条环形缝隙；各条金属银环形薄膜和各条环形缝隙共同构成多缝隙垂直环形结构。本发明适用于旋转角速度的测量。
-
公开(公告)号：CN106872068A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201611221679.2
申请日：2016-12-19
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01K11/00
CPC分类号： G01K11/006
摘要： 本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量装置，测量装置包含激光系统，一个位于由计算机控制的移动平台上的待测样品，CCD在线损伤判断装置以及测量热反射信号的两个Si雪崩光电二极管探测器和一个示波器；使用两束不同激光，一束是纳秒脉冲主激光，辐照光学薄膜诱导光学薄膜损伤，另一激光为探测激光，与主激光成一定角度射到样品表面，通过实时检测探测激光在光学薄膜表面的热反射信号来测量光学薄膜在主激光诱导的损伤过程中温度的实时变化。可以实时测量纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤过程中表面的温度，为纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤机理的确定提供实验依据。
-
公开(公告)号：CN106768889A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611221731.4
申请日：2016-12-19
申请人： 中北大学
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开一种真空环境下光学薄膜激光损伤阈值测试装置及方法，它涉及光学薄膜激光损伤测试技术领域。它包含真空系统，激光系统，移动平台，待测样品以及高速CCD相机在线损伤判断装置；使用具有一定能量密度的一串序列激光脉冲辐照待测薄膜样品的不同测试点，确定并记录下每个测试点的损伤状态，如果出现等离子闪光则说明损伤，如果没出现则说明没有损伤，计算出该能量密度下的损伤几率；特别是在低能量密度下等离子闪光较弱的情况下，使激光能量密度缓慢变化，则不出现等离子闪光的最大的激光能量密度即为该待测薄膜的激光损伤阈值。它能有效快速的测量真空环境下光学薄膜的损伤阈值。
-
-
-
-
-
-
搜索结果
7 条记录 (耗时 0.258 秒)