公开(公告)号：CN115601351A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211368622.0

申请日：2022-11-03

申请人： 中北大学(CN)

发明人： 吴泱序 ,  刘宾 ,  陈平 ,  魏交统 ,  赵晓杰

IPC分类号： G06T7/00 ,  G06V10/82 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

摘要： 本发明涉及一种融合多模信息的键合缺陷识别方法及系统，涉及图像识别领域，该方法包括：获取待识别芯片图像；根据待识别芯片图像确定图像参数；图像参数包括缺陷角点、缺陷边缘、污点灰度、污点边缘、缺陷形态、缺陷分布、缺陷差异比和污点差异比；将所述图像参数输入缺陷识别模型，根据待识别芯片图像的当前检测范围和当前图像参数，输出对待识别芯片图像进行缺陷检测的执行动作，通过执行动作更新检测范围，缺陷识别模型迭代输出执行动作，直到满足结束检测条件为止；缺陷识别模型为采用样本数据集训练好的深度卷积网络模型；所述样本数据集中每个样本包括芯片样本图像、图像参数和按顺序排列的执行动作。本发明提高了芯片缺陷识别精度。

公开(公告)号：CN115601256A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211182268.2

申请日：2022-09-27

申请人： 中北大学(CN)

发明人： 李毅红 ,  秦英伟 ,  陈平 ,  赵晓杰 ,  吴泱序

IPC分类号： G06T5/00 ,  G06N3/00

摘要： 本发明属于显微CT成像技术领域，尤其涉及一种消除阵列CT图像畸变的方法，可以针对当前CT成像的缺陷进行灰度补偿以及畸变校正。所述消除阵列CT图像畸变的方法应用于阵列CT成像系统，消除阵列CT图像畸变的方法包括：获取所述阵列CT成像系统的灰度补偿参考公式。获取标定板成像，对所述标定板成像进行灰度补偿，并获取所述阵列CT成像系统的畸变消除特征公式。根据所述阵列CT成像系统对待成像物形成所述待成像物图像，根据所述畸变消除特征公式对所述待成像物图像进行畸变校正。根据所述阵列CT成像系统对待成像物形成所述待成像物图像，根据所述畸变消除特征公式对所述待成像物图像进行畸变校正。