一种IGBT最小死区时间的试验确定方法

    公开(公告)号:CN113937996B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202111207972.4

    申请日:2021-10-18

    IPC分类号: H02M1/38

    摘要: 本发明提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法,包括:在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号,将两控制信号的死区时间逐渐减小,直至出现直通电流,此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T死区‑空载;在带载运行工况下,按照所需负载,给被试单元的上IGBT T1、下IGBT T2,陪试单元的上IGBT T3、下IGBT T4施加控制信号,逐渐减小死区时间,直至出现上IGBT T1的电流IT1、下IGBT T2的电流IT2都有异常的直通电流,记录此时两控制信号的死区时间为T死区‑带载;考虑安全裕量,计算实际使用死区时间:T死区=A*Max(T死区‑空载,T死区‑带载);利用直接试验的手段测试出最小死区时间,进而设置最合理的死区时间,以解决上述背景技术中存在的问题。