公开(公告)号：CN115597718A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211237072.9

申请日：2022-10-10

申请人： 中国人民解放军空军工程大学(CN)

发明人： 李益文 ,  张浦幼森 ,  黄龙飞 ,  李瑶 ,  陈戈 ,  化为卓

IPC分类号： G01J5/00

摘要： 本发明涉及一种基于辐照反射法的曲面红外发射率测量方法，包括在对待测目标和参考体施加两次不同能量的主动辐照下，分别采集待测网格和参考体参考点的红外辐射亮度，通过计算得到待测网格的测量红外发射率；对三种不同类型辐射源的物理光照方程进行公式推导，得到待测网格红外发射率的修正系数，对待测网格测量计算得到的测量红外发射率进行修正，得到修正后待测网格红外发射率。本发明适用于均匀平行辐照、点源辐照、小面源辐照类型下不同曲面的红外发射率精确测量；采用辐照反射法，消去了大气透过率、环境辐射及大气辐射对红外发射率测量精度的影响；对曲面目标上所有的待测网格逐一进行修正，实现了曲面目标红外发射率的精确测量。