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公开(公告)号：CN112179852B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202010912165.1
申请日：2020-09-02
IPC分类号： G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N24/08 , G01N3/52 , G01N5/04 , G01N13/00 , G01N33/44 , G01N33/00
摘要： 本发明公开了一种复合绝缘子的剩余寿命预测方法，针对现场运行中的待测复合绝缘子，提取与硅橡胶的老化状态相关的N个特征指标；采用主成分分析法获取所述检测样品的M个主成分，以计算每一所述特征指标的指标权重；根据每一所述特征指标的指标权重，计算得到所述待测复合绝缘子的最终综合得分；将所述最终综合得分输入预设的等效运行时间计算模型，以得到所述待测复合绝缘子的等效运行时间，用于预测所述待测复合绝缘子的剩余寿命。本发明还公开了相应的预测装置，实施本发明，提高了预测复合绝缘子的剩余寿命的准确性，有益于电力部门快速掌握复合绝缘子的运行状态，制定维护和更换计划，有利于节约成本，提高供电可靠性。
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公开(公告)号：CN112161826B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202010952086.3
申请日：2020-09-11
IPC分类号： G01N1/02
摘要： 本发明公开了一种绝缘子表面污秽的取样工具和方法，所述取样工具包括：刻度滑动杆、刮刀、刮刀连接杆、细胞铲、细胞铲连接杆、滑动挡板、绝缘子固定件。在对绝缘子进行表面污秽取样时，通过绝缘子固定件将所述待取样绝缘子固定在所述取样工具上，并根据预设的取样区域，滑动细胞连接杆和滑动挡板以确定出刮刀连接杆的滑动范围，通过滑动刮刀连接杆，以使刮刀对绝缘子的表面污秽进行定点定量取样，并由细胞铲进行装取。采用本发明实施例，能使取样操作过程更加简便和精准，且能有效避免用标记刀进行取样区域的标记时对绝缘材料造成损伤，保证了绝缘子的使用寿命。
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公开(公告)号：CN112161826A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010952086.3
申请日：2020-09-11
IPC分类号： G01N1/02
摘要： 本发明公开了一种绝缘子表面污秽的取样工具和方法，所述取样工具包括：刻度滑动杆、刮刀、刮刀连接杆、细胞铲、细胞铲连接杆、滑动挡板、绝缘子固定件。在对绝缘子进行表面污秽取样时，通过绝缘子固定件将所述待取样绝缘子固定在所述取样工具上，并根据预设的取样区域，滑动细胞连接杆和滑动挡板以确定出刮刀连接杆的滑动范围，通过滑动刮刀连接杆，以使刮刀对绝缘子的表面污秽进行定点定量取样，并由细胞铲进行装取。采用本发明实施例，能使取样操作过程更加简便和精准，且能有效避免用标记刀进行取样区域的标记时对绝缘材料造成损伤，保证了绝缘子的使用寿命。
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公开(公告)号：CN112945609A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110093387.X
申请日：2021-01-22
IPC分类号： G01N1/06
摘要： 本发明公开了一种复合绝缘子伞裙的切片方法，包括将螺旋测微器的测微螺杆与第一刀架连接；根据需要切片的厚度预估第一刀架和第二刀架的位置并将第一刀架和第二刀架滑动至预估的切片位置；将第二刀架固定在连接架上；旋转螺旋测微器的旋动杆，使得测微螺杆带动第一刀架上的第一刀片移动，当第一刀片与第二刀片碰撞的时候为初次位置，读取并记录螺旋测微器的固定刻度示数a和可动刻度示数b；反向旋转螺旋测微器的旋动杆，使得测微螺杆带动第一刀架上的第一刀片反向移动直至位置螺旋测微器的可动刻度示数的读数为d，转动连接架，切割待切割样品。本切片方法可以精确控制切片的厚度，便于对复合绝缘子伞裙进行老化程度的分析。
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公开(公告)号：CN112179852A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010912165.1
申请日：2020-09-02
IPC分类号： G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N24/08 , G01N3/52 , G01N5/04 , G01N13/00 , G01N33/44 , G01N33/00
摘要： 本发明公开了一种复合绝缘子的剩余寿命预测方法，针对现场运行中的待测复合绝缘子，提取与硅橡胶的老化状态相关的N个特征指标；采用主成分分析法获取所述检测样品的M个主成分，以计算每一所述特征指标的指标权重；根据每一所述特征指标的指标权重，计算得到所述待测复合绝缘子的最终综合得分；将所述最终综合得分输入预设的等效运行时间计算模型，以得到所述待测复合绝缘子的等效运行时间，用于预测所述待测复合绝缘子的剩余寿命。本发明还公开了相应的预测装置，实施本发明，提高了预测复合绝缘子的剩余寿命的准确性，有益于电力部门快速掌握复合绝缘子的运行状态，制定维护和更换计划，有利于节约成本，提高供电可靠性。
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公开(公告)号：CN113610768A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110796710.X
申请日：2021-07-14
摘要： 本发明公开一种绝缘子表面藻类覆盖率测算方法，包括：通过获取的待测绝缘子表面图像得到藻类覆盖区域图像，并结合获取的黑色参考板图像和白色参考板图像，计算得反射率指数，基于预设的反射率指数与理论覆盖率之间的对应关系，获取与所述反射率指数相对应的理论覆盖率，作为待测绝缘子的表面藻类覆盖率。本发明还公开了一种绝缘子表面藻类覆盖率测算装置及存储介质。本发明实施例根据获取的实际运行的绝缘子的表面的照片计算绝缘子表面藻类区域的反射率指数，进而测算出藻类覆盖率，实现了绝缘子表面的藻类的覆盖程度的监测，为绝缘子的清扫和维护计划制定提供参考，从而扫除因绝缘子表面藻类生长给电力系统的安全稳定运行带来的隐患。
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公开(公告)号：CN110669664A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201911010586.9
申请日：2019-10-22
摘要： 本发明涉及高电压的绝缘子藻类处理技术领域，公开了一种硅橡胶表面藻类的电场处理试验方法，包括以下步骤：利用硅橡胶制作环形片；配备不同浓度藻细胞的藻液或者藻类混合物，将所述藻液或者藻类混合物涂刷在所述环形片的表面上；将高压电源的高压电极连接在所述环形片的内圆壁，以及接地电极连接在所述环形片的外圆壁；启动所述高压电源对所述环形片进行施加电压；加压结束后，将所述环形片的表面划分成多个环形区域，获得不同所述环形区域相对应的环形电场强度范围内的藻类变化情况。测量不同环形电场强度范围内的藻类变化情况，研究对藻细胞的生长处理作用。本发明还提供一种基于上述硅橡胶表面藻类的电场处理试验方法的装置。
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公开(公告)号：CN113610768B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202110796710.X
申请日：2021-07-14
摘要： 本发明公开一种绝缘子表面藻类覆盖率测算方法，包括：通过获取的待测绝缘子表面图像得到藻类覆盖区域图像，并结合获取的黑色参考板图像和白色参考板图像，计算得反射率指数，基于预设的反射率指数与理论覆盖率之间的对应关系，获取与所述反射率指数相对应的理论覆盖率，作为待测绝缘子的表面藻类覆盖率。本发明还公开了一种绝缘子表面藻类覆盖率测算装置及存储介质。本发明实施例根据获取的实际运行的绝缘子的表面的照片计算绝缘子表面藻类区域的反射率指数，进而测算出藻类覆盖率，实现了绝缘子表面的藻类的覆盖程度的监测，为绝缘子的清扫和维护计划制定提供参考，从而扫除因绝缘子表面藻类生长给电力系统的安全稳定运行带来的隐患。
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公开(公告)号：CN110669664B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN201911010586.9
申请日：2019-10-22
摘要： 本发明涉及高电压的绝缘子藻类处理技术领域，公开了一种硅橡胶表面藻类的电场处理试验方法，包括以下步骤：利用硅橡胶制作环形片；配备不同浓度藻细胞的藻液或者藻类混合物，将所述藻液或者藻类混合物涂刷在所述环形片的表面上；将高压电源的高压电极连接在所述环形片的内圆壁，以及接地电极连接在所述环形片的外圆壁；启动所述高压电源对所述环形片进行施加电压；加压结束后，将所述环形片的表面划分成多个环形区域，获得不同所述环形区域相对应的环形电场强度范围内的藻类变化情况。测量不同环形电场强度范围内的藻类变化情况，研究对藻细胞的生长处理作用。本发明还提供一种基于上述硅橡胶表面藻类的电场处理试验方法的装置。
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公开(公告)号：CN110699415A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201911010747.4
申请日：2019-10-22
摘要： 本发明涉及高电压的绝缘子藻类处理技术领域，公开了一种硅橡胶表面藻类的紫外线处理试验方法，包括以下步骤：测量硅橡胶上附着的藻类寄生物的生长密度；将所述硅橡胶放置于设有多个紫外辐照灯的壳体上；开启所述紫外辐照灯，发出紫外线对所述硅橡胶上的所述藻类进行照射处理；测量所述硅橡胶的平均辐照强度以及处理时间，根据所述平均辐照强度和所述处理时间获取对应所述生长密度的紫外线辐照剂量。将多个所述紫外辐照灯对所述藻类进行快速照射处理，达到藻类灭活的效果，对所述硅橡胶表面的藻类经受定量紫外线辐照后的活性变化进行研究，实现对硅橡胶绝缘子上的藻类进行定量的辐照剂量处理。
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