一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法

    公开(公告)号:CN109975871B

    公开(公告)日:2020-03-27

    申请号:CN201910323257.3

    申请日:2019-04-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法,包括步骤:S1、获取薄层反射系数能谱;S2、利用所述薄层反射能谱求取对频率的一阶及三阶导数;S3、利用步骤S2中求取的对频率的一阶及三阶导数获取薄层时间厚度;S4、将步骤S3得到的薄层时间厚度计算公式转换到深度域得到薄层厚度。本发明方法利用了薄层反射系数能谱随频率变化的特征,在频率域进行公式推导,以更少的近似来进行薄层厚度预测。本发明方法中对于随频率变化的薄层反射系数,考虑其能谱,在频率域进行厚度预测,公式简单,计算快捷,能够高精度的进行薄层厚度预测。

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