公开(公告)号：CN114166674A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202111466623.4

申请日：2021-12-03

申请人： 中国地质大学(北京) ,  中国地质大学(北京)郑州研究院

发明人： 佘丁顺 ,  高武龙 ,  方纪昊 ,  田畅 ,  高迪 ,  岳文 ,  康嘉杰 ,  王浩东 ,  孟德忠 ,  王尉

IPC分类号： G01N3/56 ,  G01N3/06

摘要： 本申请公开了一种金属表界面磨损的试验装置及方法，用于实现原子尺度的磨损试验的观察。本申请包括：控制试样组件开始运行，所述试样组件用于进行磨损试验；控制照明组件在预设参数下向所述试样组件发射电子光束，所述电子光束透过所述试样组件后形成携带有所述磨损试验信息的目标电子光束；控制成像组件将所述目标电子光束进行放大成像，得到成像结果；控制观察与记录组件将所述成像结果向用户展示。

公开(公告)号：CN114166674B

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202111466623.4

申请日：2021-12-03

申请人： 中国地质大学(北京) ,  中国地质大学(北京)郑州研究院

发明人： 佘丁顺 ,  高武龙 ,  方纪昊 ,  田畅 ,  高迪 ,  岳文 ,  康嘉杰 ,  王浩东 ,  孟德忠 ,  王尉

IPC分类号： G01N3/56 ,  G01N3/06

摘要： 本申请公开了一种金属表界面磨损的试验装置及方法，用于实现原子尺度的磨损试验的观察。本申请包括：控制试样组件开始运行，所述试样组件用于进行磨损试验；控制照明组件在预设参数下向所述试样组件发射电子光束，所述电子光束透过所述试样组件后形成携带有所述磨损试验信息的目标电子光束；控制成像组件将所述目标电子光束进行放大成像，得到成像结果；控制观察与记录组件将所述成像结果向用户展示。