专利检索 ap:("中国地质大学(武汉)") AND inv:"刘东岩" 第 1 页

1.

发明公开
一种表征微纳矿物颗粒表面能的光学测试方法审中-公开

公开(公告)号：CN118858081A

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202410900313.6

申请日：2024-07-05

申请人： 中国地质大学(武汉)

发明人： 陶征涛 , 宁伏龙 , 刘东岩 , 刘志辉

IPC分类号： G01N15/00 , G01N13/02 , G01N9/36 , G01N9/24

摘要： 本发明涉及矿物基础物性分析技术领域，具体公开了一种表征微纳矿物颗粒表面能的光学测试方法。包括以下步骤：S1、配制不同体积分数的乙醇水溶液，获得不同体积分数的乙醇水溶液的表面张力值；S2、分散体系配制，将待测矿物颗粒分别加入后步骤S1得到的乙醇水溶液中，混合均匀，然后静置自然沉降，取上清液，获得上清液的光密度值；S3、以不同体积分数的乙醇水溶液的表面张力为横坐标，测定得到的光密度值为纵坐标，绘制散点图，进行数据拟合，曲线峰值对应的乙醇水溶液表面张力即为待测颗粒表面能。该方法仅需依托光密度检测设备能够轻松实现对微纳矿物颗粒表面能的直接测定，为今后矿物颗粒表面能的表征提供便利。