用于难熔矿物氧同位素微区原位分析的双重加热氟化制样装置及测试方法

    公开(公告)号:CN118392589A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410311633.8

    申请日:2024-03-19

    IPC分类号: G01N1/28 G01N1/44 G01N27/62

    摘要: 本申请涉及一种用于难熔矿物氧同位素微区原位分析的双重加热氟化制样装置及测试方法,一级加热氟化组件采用红外激光内加热的方式快速加热飞秒紫外激光剥蚀产生的气溶胶颗粒,避免温度过高,镍管壁与氟化剂反应,一级加热氟化组件的反应腔的直径与红外激光的束斑直径一致,确保气溶胶颗粒全部集中在红外激光的焦点内,使氟化瞬间完成;二级加热氟化组件对一级加热氟化组件中未完全反应的气溶胶颗粒进行二次加热氟化,二级加热氟化组件采用螺旋形镍氟化管,增加高温氟化路径,延长氟化反应时间,使反应更彻底。本申请通过连续两级加热氟化反应,确保难熔矿物气溶胶颗粒反应完全,不产生分馏,提升测试结果准确性。

    一种热液矿床中单个矿物流体包裹体中微量气体成分测试系统及方法

    公开(公告)号:CN117890458B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202410066296.0

    申请日:2024-01-17

    IPC分类号: G01N27/626 G01N1/28 G01N1/34

    摘要: 本发明涉及一种热液矿床中单个矿物流体包裹体中微量气体成分测试系统及方法,采用没有热效应的飞秒紫外激光在超高真空微型样品池中将选定的单个矿物流体包裹体打开,释放出单个包裹体中微量气体组分,利用痕量气体富集纯化装置富集二氧化碳、甲烷等气体组分,去除水等杂质,低温解冻后纯净气体扩散进入四极质谱仪测量各气体组分的含量,利用微量标准气体对分析结果进行校准;利用真空泵组实现对系统抽真空。本申请系统真空度高,本底低,灵敏度高,实现了单个矿物流体包裹体中微量气体成分定量分析。

    紫外激光剥蚀-气体同位素质谱碳酸盐碳氧同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116413104B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202310332415.8

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种紫外激光剥蚀‑气体同位素质谱碳酸盐碳氧同位素微区原位分析系统及方法,利用波长为193nm的紫外激光在密闭环境下从待测试样品中剥蚀出碳酸盐气溶胶颗粒;利用氦载气将剥蚀出的碳酸盐气溶胶颗粒在密闭环境下携带进入CO2气体制备装置中进行反应,获得含CO2气体的混合气;对含CO2气体的混合气进行富集纯化,得到目标CO2气体;利用反吹氦气流将目标CO2气体通过微型分流接口供入气体同位素比值质谱仪,测量得到测试结果。本发明将传统激光探针微区原位取样与分析气体制备分开进行,激光剥蚀采用热效应小、基体效应小的193nm紫外激光,剥蚀形成的气溶胶微粒大小均匀,传输效率高,避免和减少激光剥蚀和传输过程中发生分馏。

    一种热液矿床中单个矿物流体包裹体中微量气体成分测试系统及方法

    公开(公告)号:CN117890458A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410066296.0

    申请日:2024-01-17

    IPC分类号: G01N27/626 G01N1/28 G01N1/34

    摘要: 本发明涉及一种热液矿床中单个矿物流体包裹体中微量气体成分测试系统及方法,采用没有热效应的飞秒紫外激光在超高真空微型样品池中将选定的单个矿物流体包裹体打开,释放出单个包裹体中微量气体组分,利用痕量气体富集纯化装置富集二氧化碳、甲烷等气体组分,去除水等杂质,低温解冻后纯净气体扩散进入四极质谱仪测量各气体组分的含量,利用微量标准气体对分析结果进行校准;利用真空泵组实现对系统抽真空。本申请系统真空度高,本底低,灵敏度高,实现了单个矿物流体包裹体中微量气体成分定量分析。

    飞秒紫外激光剥蚀-气体同位素质谱硫化物四硫同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116399661B

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202310332602.6

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种飞秒紫外激光剥蚀‑气体同位素质谱硫化物四硫同位素微区原位分析系统及方法,使用飞秒紫外激光在密闭环境下剥蚀出待测样品的硫化物气溶胶颗粒;利用氦载气将所述硫化物气溶胶颗粒在密闭环境下携带进入SF6气体制备装置中,与氦气稀释的BrF5气体进行反应,获得含SF6气体的混合气;除去所述含SF6气体的混合气中的杂质气体,获得纯净的目标SF6气体,将所述纯净的目标SF6气体供入气体同位素比值质谱仪进行测试,得到四硫同位素组成的测试结果。本发明将传统激光探针微区原位熔蚀取样与氟化和SF6制备由原地同时进行,改为异地先后完成,避免了红外激光熔蚀‑SF6制备过程中因反应不完全和氟化剂与基体组分反应产生的分馏和影响。

    紫外激光剥蚀-气体同位素质谱碳酸盐碳氧同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116413104A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310332415.8

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种紫外激光剥蚀‑气体同位素质谱碳酸盐碳氧同位素微区原位分析系统及方法,利用波长为193nm的紫外激光在密闭环境下从待测试样品中剥蚀出碳酸盐气溶胶颗粒;利用氦气流将剥蚀出的碳酸盐气溶胶颗粒在密闭环境下携带进入CO2气体制备装置中进行反应,获得含CO2气体的混合气;对含CO2气体的混合气进行富集纯化,得到目标CO2气体;利用反吹氦气流将目标CO2气体通过微型分流接口供入气体同位素比值质谱仪,测量得到测试结果。本发明将传统激光探针微区原位取样与分析气体制备分开进行,激光剥蚀采用热效应小、基体效应小的193nm紫外激光,剥蚀形成的气溶胶微粒大小均匀,传输效率高,避免和减少激光剥蚀和传输过程中发生分馏。

    飞秒激光探针硅酸盐硅氧同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116399660B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310332515.0

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种飞秒激光探针硅酸盐硅氧同位素微区原位分析系统及方法,其中,所述分析系统包括在分析气路上依次设置的飞秒紫外激光剥蚀装置、氟化制样装置、O2和SiF4富集纯化分离装置和气体同位素比值质谱仪;利用飞秒激光器从待测试样品中剥蚀出硅酸盐氧化物气溶胶颗粒,剥蚀出的硅酸盐氧化物气溶胶颗粒由氦载气携带进入氟化制样装置中,与BrF5气体反应生成含目标O2和SiF4气体的混合气;经O2和SiF4富集纯化分离装置,依次收集纯化的目标O2和SiF4气体,供入质谱仪中进行测试,得到多氧同位素和硅同位素组成。本发明有效避免了红外激光熔蚀‑氟化过程中因反应不完全和氟化剂与基体组分反应产生的分馏,实现了一次剥蚀硅、氧同位素同时分析。

    飞秒激光探针硅酸盐硅氧同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116399660A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310332515.0

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种飞秒激光探针硅酸盐硅氧同位素微区原位分析系统及方法,其中,所述分析系统包括在分析气路上依次设置的飞秒紫外激光剥蚀装置、氟化制样装置、O2和SiF4富集纯化分离装置和气体同位素比值质谱仪;利用飞秒激光器从待测试样品中剥蚀出硅酸盐氧化物气溶胶颗粒,剥蚀出的硅酸盐氧化物气溶胶颗粒由氦载气携带进入氟化制样装置中,与BrF5气体反应生成含目标O2和SiF4气体的混合气;经O2和SiF4富集纯化分离装置,依次收集纯化的目标O2和SiF4气体,供入质谱仪中进行测试,得到多氧同位素和硅同位素组成。本发明有效避免了红外激光熔蚀‑氟化过程中因反应不完全和氟化剂与基体组分反应产生的分馏,实现了一次剥蚀硅、氧同位素同时分析。

    一种无动力可调温冷阱
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116351093A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310332755.0

    申请日:2023-03-31

    IPC分类号: B01D8/00

    摘要: 本发明公开了一种无动力可调温冷阱,属于冷却装置技术领域,解决了现有液氮冷阱无法根据实验需要精确、连续调节冷冻温度的问题。无动力可调温冷阱包括:第一冷冻空间,被配置为容纳第一冷冻介质;第二冷冻空间,置于第一冷冻空间内,被配置为容纳第二冷冻介质,第二冷冻介质的温度高于第一冷冻介质的温度;第二冷冻空间具有第一进口和第一出口,第一进口供第二冷冻介质流入,第一出口供第二冷冻介质流出;第三冷冻空间,置于第二冷冻空间内,第三冷冻空间具有第二进口和第二出口,第二进口供含有目标气体的混合气流入,第二出口与下游测试气路连接。本发明实现了冷阱冷冻温度的精准、连续调节。

    紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统及方法

    公开(公告)号:CN116297791B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202310332296.6

    申请日:2023-03-31

    摘要: 本申请涉及一种紫外激光探针硫化物硫同位素微区原位分析系统及方法,其中,所述分析系统包括分析气路,所述分析气路上沿气体流动方向依次设置紫外激光剥蚀装置、微量SO2气体制备装置、SO2气体收集纯化装置、微型分流接口和气体同位素比值质谱仪。本发明将传统激光探针微区原位取样与分析气体制备,由原地同时进行改为异地先后完成,避免了激光剥蚀‑分析气体制备过程中因反应不完全和试剂与基体组分反应产生的分馏和影响;而且针对红外激光加热熔蚀过程中产生的分馏,采用没有明显热效应和基体效应的紫外激光剥蚀样品,产生的气溶胶微粒大小均匀,传输效率高,避免和减少了激光剥蚀和传输过程中发生分馏。