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公开(公告)号:CN111766479A
公开(公告)日:2020-10-13
申请号:CN202010619837.X
申请日:2020-07-01
发明人: 张智超 , 李盛 , 王立平 , 邢耀敏 , 杨海超 , 姚谦 , 谢春瑰 , 吕楠 , 张兴滨 , 杨玉新 , 任智刚 , 李雪峰 , 李鹏 , 杨琨 , 陈振坤 , 金辰 , 李博一 , 李哲 , 孟禹衡 , 张浩然 , 赵梓邑 , 王增强 , 王亚 , 闫晓磊 , 邵一波
摘要: 本发明涉及一种利用超低频介损检测评估电力电缆绝缘性能的方法,包括试验接线;在0.5U0、U0、1.5U0电压下分别测量被试相电缆的介质损耗因数,试验时,电压以0.5U0的步进值从0.5U0开始升高至1.5U0,在每个步进电压下完成不少于5次的介质损耗因数测量,每两次测量之间间隔10s;记录每个试验电压下的介质损耗因数值,并进行数据处理和存储,计算测试数据的介质损耗因数平均值、介质损耗因数变化率、介质损耗因数稳定性;以介质损耗因数平均值、介质损耗因数变化率和介质损耗因数稳定性的绝对值作为评价指标,得到基于电缆绝缘状态的评价结果。本发明可用于预防、排查电缆故障。该方法精度高、对电缆损伤小,可以更准确、更有效的对电力电缆的绝缘性能进行评估。
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