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公开(公告)号：CN111637967A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010360561.8
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光能量测量装置，尤其是一种通用固体吸收型高能激光能量测量探头，属于高能激光能量测试领域；该装置包括激光吸收体、扩束锥、集光器，所述激光吸收体的上部设置有用于收集激光的集光器，该集光器的底端靠近激光吸收体的侧面处还设置有光电探测单元，该扩束锥装配于激光吸收体内以用于将激光反射至激光吸收体，还包括用于温度检测的温度检测元件；本发明通过扩束锥以及激光吸收体结构的设计有效的解决了现在高能激光能量计当中存在的强激光硬毁伤问题，同时，不仅能够解决传统结构能量逸出损失导致全吸收效率低下的问题，还可应用于实心光束、环形光束等不同光斑分布的被测激光能量测量，提高了其自身的实用性。
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公开(公告)号：CN104165690B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201410448322.2
申请日：2014-09-04
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明提供了一种高能激光能量计校准装置，所述装置含有4支大功率卤钨灯、8个卤钨灯固定支架、反射锥、反射锥固定架、冷却风扇、调节螺杆、平板能量计、热电偶温度传感器、转接底座、电源线、电能表、信号引线、温度数据采集系统。反射锥为正四棱台结构，外表面为经过喷砂镀金的涂层，4支大功率卤钨灯安装在反射锥的4个侧面。平板能量计为圆饼形结构，外表面为经过抛光镀金的涂层。反射锥、平板能量计均通过螺纹与调节螺杆连接，二者之间的距离可通过旋转调节螺杆的螺纹来调整。本发明可实现对锥腔型高能激光能量计的校准，并显著提升对大功率高能激光能量计的校准功率和校准精度，校准装置在使用过程中安全、可靠。
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公开(公告)号：CN104165690A
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201410448322.2
申请日：2014-09-04
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明提供了一种高能激光能量计校准装置，所述装置含有4支大功率卤钨灯、8个卤钨灯固定支架、反射锥、反射锥固定架、冷却风扇、调节螺杆、平板能量计、热电偶温度传感器、转接底座、电源线、电能表、信号引线、温度数据采集系统。反射锥为正四棱台结构，外表面为经过喷砂镀金的涂层，4支大功率卤钨灯安装在反射锥的4个侧面。平板能量计为圆饼形结构，外表面为经过抛光镀金的涂层。反射锥、平板能量计均通过螺纹与调节螺杆连接，二者之间的距离可通过旋转调节螺杆的螺纹来调整。本发明可实现对锥腔型高能激光能量计的校准，并显著提升对大功率高能激光能量计的校准功率和校准精度，校准装置在使用过程中安全、可靠。
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公开(公告)号：CN118857691A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411333334.0
申请日：2024-09-24
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域，具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪，包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统；所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束，所述缩束器用于将光束转换光斑，所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上，所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息，所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理，并计算出待测光的远场β值，解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响，导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
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公开(公告)号：CN108801465B
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN201810703684.X
申请日：2018-06-29
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明提供了一种激光偏振态测量装置及其测量方法，该方案包括有偏振分束镜、偏振分光棱镜Ⅰ、偏振分光棱镜Ⅱ、45°全反镜Ⅰ、45°全反镜Ⅱ、漫透射屏Ⅰ、漫透射屏Ⅱ、漫透射屏Ⅲ、漫透射屏Ⅳ、CCD相机、数据处理器和同步触发器；该方案采用漫透射屏结合CCD相机成像的子束相对能量测量方法，用于激光偏振态测量，系统简单集成度高，特别适合口径较大的高重频脉冲激光偏振态测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106768310A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710045032.7
申请日：2017-01-22
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01J1/04
CPC classification number: G01J1/0418
Abstract: 本发明提供了一种高能激光阵列探测器用取样衰减装置，所述取样衰减装置包含数个按照规律排布的结构相同的取样衰减器。每个取样衰减器包括前铜板、后铜板、衰减片固定板、衰减片和衰减片压板。取样衰减器的前部设置有前铜板，后铜板紧贴前铜板，衰减片固定板紧贴后铜板，衰减片安装在衰减片固定板中，衰减片压板紧贴衰减片。本发明中的前铜板上采用两个空间斜孔对激光束进行取样，可以实现对激光束的大角度探测。前铜板用于漫反射非取样高能激光，具有较高的损伤阈值。通过前铜板、后铜板间设置的球孔衰减和衰减片厚度或反射率调节衰减倍率。本发明解决了阵列探测器测量中高能量密度和大探测角度问题，对于激光强度分布测量具有重要意义。
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公开(公告)号：CN104133302B
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201410354915.2
申请日：2014-07-24
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种强激光取样衰减器，所述取样衰减器中的上部设置有漫反射取样板，漫反射取样板下部依次与衰减腔板、取样光散射板、衰减底板固定连接。漫透射材料置于取样光散射板和衰减底板之间。漫反射取样板用于对非取样强激光进行漫反射，具有高损伤阈值，漫反射取样板上的通孔用于对激光束进行空间取样，取样光散射板用于对取样强激光进行漫反射，衰减腔用于衰减匀化取样激光，漫透射材料用于将发散匀化后的激光再次进行取样，衰减底板上的通孔再次对漫透射取样光进行衰减。本发明解决了持续时间数十秒、功率密度10kW/cm2的强激光现有取样衰减器无法直接进行取样和衰减的问题，对于强激光参数测量具有重要促进作用。
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公开(公告)号：CN118857691B
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411333334.0
申请日：2024-09-24
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域，具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪，包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统；所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束，所述缩束器用于将光束转换光斑，所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上，所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息，所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理，并计算出待测光的远场β值，解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响，导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
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公开(公告)号：CN113008529A
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202110513851.6
申请日：2021-05-12
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，包括激光器、衍射光栅、光束调节件、待测光学元件、分光镜、色散元件、时间透镜模块、高速探测系统。本发明利用激光器产生宽光谱、高相干、高平坦度、超快脉冲激光；通过夫琅禾费衍射将脉冲激光的频域（光谱）信息被一一对应地映射到类线型的空间域上；通过柱棱镜成像或虚拟成像的方法将类线型光斑转换成矩形光斑，实现大口径实时测量；最终分别通过傅里叶色散及时间透镜映射实现对携带待测元件振幅、相位信息的激光实时测量。
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公开(公告)号：CN112548928A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011424887.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明公开了一种大口径光学镜安装拆除辅助装置，包括支撑组件，其包括台面及设置于台面下的支撑腿，所述台面中部设置升降孔；托盘，其设置于升降孔处；升降架，其位于升降孔下方并与台面连接；丝杆升降机，其设置于升降架上，与托盘连接带动托盘升降；夹持组件，其包括多个设置于台面上的夹持装置，所述夹持装置包括连接杆，所述连接杆一端与台面连接，相对另一端设置于连接杆螺纹连接调节上下高度的夹持杆。采用本发明的一种大口径光学镜安装拆除辅助装置，能有效地防止大口径光学镜安装及拆除过程中的损坏，极大地提高拆装效率。
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