多通道晶体管瞬态辐照测试装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118169531A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410233998.3

    申请日:2024-03-01

    IPC分类号: G01R31/26 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种多通道晶体管瞬态辐照测试装置,包括有测试筒安装盘,所述测试筒安装盘安装在滑台上;所述测试筒安装盘为弧形盘,该测试筒安装盘上开有至少1个测试筒安装孔,至少1个所述测试筒安装孔围绕所述测试筒安装盘圆心等距分布,每个所述测试筒安装孔内安装有一个测试筒,每个所述测试筒均指向激光等离子体脉冲辐射源。有益效果:在晶体管进行辐照测试时,本发明能对晶体管以外的电子元器件进行辐射屏蔽,提高晶体管辐照测试准确性。