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发明公开
纳米颗粒跟踪分析仪在表面活性剂聚集体表征中的应用无效

公开(公告)号：CN114184527A

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN202111534289.1

申请日：2021-12-15

Applicant: 中国日用化学研究院有限公司

Inventor： 台秀梅 , 李春晖 , 王天壮 , 郭凌霄 , 白艳云 , 马艳君

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明公开了一种纳米颗粒跟踪分析仪在表面活性剂聚集体表征中的应用。步骤包括：校准仪器；将温度控制单元的温度参数设置为25±1℃；填充样品；设置摄像机参数和激光光源参数，检查浓度范围；若表面活性剂浓度过高，需稀释样品，调整样品的稀释度为对应稀释倍数并确认漂移值在绿色范围内；运行视频采集，设置文件名，设置测量位置数、循环次数、视频长度和分辨率；待采集和分析完成后，根据报告中所示参数对数据进行取舍。本发明仅使用纳米颗粒跟踪分析仪一台仪器，即可表征表面活性剂聚集体的形态、大小和运动情况而不破坏其结构，还能对表面活性剂聚集体进行粒径分布测定、体积分布测定和Zeta电位分析。

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