公开(公告)号：CN118248357A

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202410325366.X

申请日：2024-03-21

申请人： 中国核动力研究设计院

发明人： 王云波 ,  李延鹏 ,  梁宇轩 ,  刘荣 ,  李加刚 ,  王国华 ,  王皓 ,  宋雨鸽 ,  操节宝 ,  吴清丽 ,  罗欣 ,  郑霄

IPC分类号： G21C17/00 ,  G21G1/02

摘要： 本发明公开了一种用于单晶硅辐照孔道中子注量率分布测量试验装置，包括固定组件、支撑组件，还包括周向探测器安装件、轴向探测器安装件、径向探测器安装件，分别用于安装探测器；固定组件由两个固定座组成，支撑组件由多个沿两个固定座中心连线的轴向方向布置的支撑条组成，各支撑条的两端固定连接在固定座上；周向探测器安装件为由多个安装条相接形成的环形结构，周向探测器安装件与贯穿环形结构周面的支撑条固定连接；轴向探测器安装件与沿轴向的支撑条固定连接；径向探测器安装件与多个沿径向排列的支撑条相连接。本发明可一次同时测量单晶硅辐照孔道中子注量率的周向、轴向和径向分布，提高效率，降低成本。