公开(公告)号：CN119335054A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411524615.4

申请日：2024-10-30

Applicant: 中国核工业二三建设有限公司 ,  核工业工程研究设计有限公司 ,  大连理工大学

Inventor： 严宇 ,  王俊龙 ,  杨会敏 ,  刘伟达 ,  徐喆 ,  李梦园 ,  彭炎 ,  陈春林 ,  张洋

IPC: G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明提供了一种基于TRL探头的奥氏体不锈钢稀疏阵列全聚焦成像方法，包括：利用声束指向旁瓣幅值水平作为目标函数，结合遗传算法建立优化数学模型，获得TRL探头的稀疏阵列排布方式。使用TRL面阵探头采集厚壁奥氏体不锈钢全矩阵数据，通过优化后的TRL阵元排布进行稀疏阵列成像。由满阵的623.91s成像时间降低至50s左右，成像速度提升了约92％，而缺陷信噪比仅降低了14.69％。本发明可在少量损失成像质量的情况下，大幅提升TFM成像效率，实现了检测效率与成像质量的良好平衡。