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公开(公告)号:CN105182210B
公开(公告)日:2018-11-09
申请号:CN201510634072.6
申请日:2015-09-29
摘要: 本发明公开了一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法,所述通用接口包括:微处理器及其外部电路;所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口;所述通用接口一端与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接,另一端与对外的总线插座连接;所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接。本发明提供的技术方案将嵌入式产品中常用的数字接口统一设计,使用一组简单的规约,实现了通过规约对多种电气通讯接口的读写控制。
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公开(公告)号:CN105182265A
公开(公告)日:2015-12-23
申请号:CN201510634285.9
申请日:2015-09-29
摘要: 本发明公开一种计量芯片选型测试系统,该系统包括功率源、采集模块、计量芯片测试模块、数控电源模块、通讯模块、微处理器、接口转换模块和PC机测试系统;所述微处理器分别与通讯模块、接口转换模块和数控电源模块相连;所述计量芯片测试模块分别与采集模块、数控电源模块和接口转换模块相连;所述功率源分别与通讯模块、数控电源模块和采集模块相连。本发明通用的计量芯片测试装置,实现了多功能测试,提高计量的准确性,有助于智能电能表的研发设计,减少了智能电能表的开发成本。
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公开(公告)号:CN105182210A
公开(公告)日:2015-12-23
申请号:CN201510634072.6
申请日:2015-09-29
摘要: 本发明公开了一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法,所述通用接口包括:微处理器及其外部电路;所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口;所述通用接口一端与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接,另一端与对外的总线插座连接;所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接。本发明提供的技术方案将嵌入式产品中常用的数字接口统一设计,使用一组简单的规约,实现了通过规约对多种电气通讯接口的读写控制。
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