全光纤直流电流测量装置阶跃响应测试系统及方法

    公开(公告)号:CN110045308A

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201810040622.5

    申请日:2018-01-16

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种全光纤直流电流测量装置阶跃响应测试系统及方法,该系统包括电流源、待测全光纤直流电流测量装置和阶跃响应校验仪,待测全光纤直流电流测量装置包括光纤电流传感环和二次转换器,电流源和光纤电流传感环连接组成一次回路,光纤电流传感环还分别连接有精密分流器和二次转换器,精密分流器和二次转换器均与所述阶跃响应校验仪相连接,所述精密分流器通过高速采集卡和阶跃响应校验仪相连接。本发明还提供了一种阶跃响应测试方法。本发明提高了全光纤直流电流测量装置阶跃响应过程的测试准确度,使得测试结果更能准确地反映直流电流测量装置的实际性能,从而有效提高了对直流电流测量装置性能的甄别能力。

    全光纤直流电流测量装置阶跃响应测试系统及方法

    公开(公告)号:CN110045308B

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN201810040622.5

    申请日:2018-01-16

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种全光纤直流电流测量装置阶跃响应测试系统及方法,该系统包括电流源、待测全光纤直流电流测量装置和阶跃响应校验仪,待测全光纤直流电流测量装置包括光纤电流传感环和二次转换器,电流源和光纤电流传感环连接组成一次回路,光纤电流传感环还分别连接有精密分流器和二次转换器,精密分流器和二次转换器均与所述阶跃响应校验仪相连接,所述精密分流器通过高速采集卡和阶跃响应校验仪相连接。本发明还提供了一种阶跃响应测试方法。本发明提高了全光纤直流电流测量装置阶跃响应过程的测试准确度,使得测试结果更能准确地反映直流电流测量装置的实际性能,从而有效提高了对直流电流测量装置性能的甄别能力。