公开(公告)号：CN111736121A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN202010514133.6

申请日：2020-06-08

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 仵宁宁 ,  蔡汝山 ,  邱森宝 ,  李人擎 ,  杨司邦 ,  辛文波 ,  周婧 ,  杨然 ,  李俊 ,  谢章用 ,  胡巨刚 ,  李劲

IPC: G01S7/40

Abstract: 本发明涉及可靠性试验技术领域，公开了一种地面半固定雷达可靠性试验剖面制定方法。所述地面半固定雷达可靠性试验剖面制定方法包括依据地面半固定雷达的特点，对所述地面半固定雷达的典型任务过程进行剖面分析；其中，所述典型任务过程包括运输阶段、准备阶段、值守阶段和转移阶段；结合综合环境应力和剖面分析结论制定试验剖面方案；其中，综合环境应力包括振动应力、温度应力、湿度应力和电应力。本发明针对地面半固定雷达可靠性水平的验证和提升需求，通过分析所述地面半固定雷达的任务剖面，研究得出相应试验剖面的制定方法，从而确定所述地面半固定雷达的试验剖面方案，以完善所述地面半固定雷达可靠性指标体系的考核方法。

公开(公告)号：CN117783700B

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202410200367.1

申请日：2024-02-23

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王毅 ,  李朋 ,  林觉列 ,  仵宁宁 ,  蔡汝山 ,  张国英 ,  张朝鹏

IPC: G01R29/10 ,  G01R29/08

Abstract: 本申请涉及一种天线识别方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：响应于对待测天线的类型识别请求，控制待测天线向不同方向交替发射相同功率的波束；待测天线周围多个不同位置放置有喇叭天线，且各喇叭天线距离待测天线距离一致；根据各喇叭天线接收的波束，获取待测天线发射一圈波束的波束切换时间；根据波束切换时间，确定待测天线的全方位电扫相控阵天线识别结果。通过在待测天线周围多个不同位置处放置喇叭天线，且每个喇叭天线距离待测天线距离一致，可以获取到待测天线的波束切换时间，这样，即可通过波束切换时间判断待测天线是否属于全方位电扫相控阵天线，验证了天线属于全方位电扫相控阵天线的真实性。

公开(公告)号：CN117608915A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202311629285.0

申请日：2023-11-30

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王毅 ,  李朋 ,  李劲 ,  仵宁宁 ,  解禾 ,  蔡汝山 ,  汪凯蔚 ,  孙立军 ,  张国英 ,  邱森宝

IPC: G06F11/10

Abstract: 本申请涉及一种数据验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：分别在试验箱施加不同试验应力的场景下，根据预设的数据分割算法将目标数据动态分割为多个传输数据；采用预设数据验证方式依次对各所述传输数据进行验证；在每个所述传输数据验证均通过的情况下，确定所述目标数据验证通过。采用本方法能够提高验证效率。

公开(公告)号：CN117783700A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202410200367.1

申请日：2024-02-23

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王毅 ,  李朋 ,  林觉列 ,  仵宁宁 ,  蔡汝山 ,  张国英 ,  张朝鹏

IPC: G01R29/10 ,  G01R29/08

Abstract: 本申请涉及一种天线识别方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：响应于对待测天线的类型识别请求，控制待测天线向不同方向交替发射相同功率的波束；待测天线周围多个不同位置放置有喇叭天线，且各喇叭天线距离待测天线距离一致；根据各喇叭天线接收的波束，获取待测天线发射一圈波束的波束切换时间；根据波束切换时间，确定待测天线的全方位电扫相控阵天线识别结果。通过在待测天线周围多个不同位置处放置喇叭天线，且每个喇叭天线距离待测天线距离一致，可以获取到待测天线的波束切换时间，这样，即可通过波束切换时间判断待测天线是否属于全方位电扫相控阵天线，验证了天线属于全方位电扫相控阵天线的真实性。

公开(公告)号：CN114002706A

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN202111275200.4

申请日：2021-10-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王毅 ,  仵宁宁 ,  谢俊杰 ,  谷晓星 ,  刘通 ,  王春辉 ,  李劲 ,  时钟 ,  蔡汝山 ,  解禾

IPC: G01S17/89 ,  G06T7/00 ,  G06T7/70

Abstract: 本申请涉及一种光电稳瞄系统的测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：控制所述平行光成像模组输出预设图形的平行光束至所述待测光电设备，以获取与所述预设图形对应的成像图像；设置所述振动台的振动参数，并基于所述振动参数获取相应帧数的多个所述成像图像；获取多帧所述成像图像中所述预设图形的中心位置相对于初始位置的偏移量；根据各所述偏移量计算所述光电稳瞄系统的稳定精度。采用本方法能够对光电稳瞄系统的稳定精度进行测量。