-
公开(公告)号：CN114252402B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
-
公开(公告)号：CN114252402A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
-
公开(公告)号：CN114295536B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
-
公开(公告)号：CN115295101A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210954213.2
申请日：2022-08-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G16C60/00
Abstract: 本发明公开了一种胶粘剂与高分子材料的兼容性的评估方法，属于材料分析技术领域。该方法包括：取相同的含有待测高分子材料的电子产品分为样品试样和对照试样，将样品试样及待测的胶粘剂置于第一密闭容器内，加热以使胶粘剂中含有的小分子挥发物挥发出来并扩散至样品试样中高分子材料的内部；对照试样作为对照；将加热处理后两组电子产品进行加速劣化处理；随后进行对比，若加速劣化处理后的两组电子产品无明显差异，则胶粘剂与电子产品兼容，反之不兼容。该方法简单，易操作，既可以用于研发过程中，确定胶粘剂与相邻的高分子材料是否兼容，也可以用于失效分析工作中，复现胶粘剂与相邻高分子材料不兼容导致的失效现象。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114720481A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210378036.8
申请日：2022-04-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及检测技术领域，公开了LCD屏边框是否分层的检测方法及其质量检测方法，包括：使浸没有LCD屏的荧光染色剂溶液体系处于压力小于或等于‑0.1MPa的环境下，保持至少1min；取出LCD屏，去除其表面液体，将LCD屏从边缘撬开为两半；使用荧光激发光源照射撬开的LCD屏原本位于屏中间的一面；通过观察撬开的LCD屏是否存在荧光显色区域判断LCD屏边框是否分层，若观察到撬开的LCD屏内存在荧光染色区域则表明LCD屏边框存在分层，反之则无。LCD屏的质量检测方法，包括上述的LCD屏边框是否分层的检测方法。本申请提供的方法操作简单，可准确快速检测出LCD屏边框是否分层。
-
公开(公告)号：CN114414655A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210092832.5
申请日：2022-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件表面腐蚀层厚度的检测方法，属于分析检测技术领域。该方法采用飞行时间二次离子质谱仪对待测电子元器件样品表面进行腐蚀元素定位，采集样品表面成分信息，确认腐蚀元素，随后进行纵向深度剖析，当腐蚀元素原子数不再随剥离深度变化或检测不出腐蚀性元素时，以此时的剥离深度作为腐蚀层厚度。该方法检测步骤简单，成本较低，无须额外制样，检测效率高，检测灵敏度高可达ppm至ppb，精度达到纳米级，能够准确获取腐蚀层厚度，对微型元器件的质量评估、可靠性评估和失效分析等方面具有较大的应用前景。
-
公开(公告)号：CN114563334A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210197531.9
申请日：2022-03-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种热缩焊锡物对铜腐蚀性能的检测装置及方法，属于铜腐蚀检测技术领域。该检测装置包括容器、加热装置以及检测组件；检测组件包括试验组件；试验组件包括第一铜镜及第一容纳管；第一铜镜悬挂于第一容纳管内，且第一铜镜的底端与第一容纳管的底端具有第一间距；第一容纳管的顶部为封闭状态；容器内用于盛装导热介质并使导热介质在测试过程中浸没第一容纳管的下部；加热装置用于对导热介质进行加热；待测热缩焊锡物在测试过程中置于第一容纳管的被导热介质浸没的区域内。该装置结构简单，易操作，通过铜镜表面腐蚀面积，可直观反映出热缩焊锡环或热缩屏蔽焊锡环对铜的腐蚀强度，对电线连接的质量及可靠性评估具有较大的应用前景。
-
公开(公告)号：CN114295536A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
-
公开(公告)号：CN211602848U
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201922206851.2
申请日：2019-12-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本实用新型涉及一种硫化腐蚀试验装置，包括试验壳体、样品支架和试验器皿，所述试验壳体中形成的腔体被分割为样品腔和试验腔，所述样品支架设置在所述样品腔中，所述试验腔用于盛装饱和硝酸钾溶液，所述试验器皿放置在所述试验腔中，所述试验器皿用于放置硫粉。在高温环境下，所述饱和硝酸钾溶液能够自动营造高湿度环境，从而使得所述试验器皿中的硫粉在高温高湿环境下与水蒸气发生反应，形成硫化氢和二氧化硫。从而营造较恶劣的硫化腐蚀试验环境，更加符合实际使用时的环境特征，对所述待检测产品进行检测，提升试验结果的可借鉴性。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9
records
(took 0.089 seconds)
