公开(公告)号：CN117647756B

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202410116711.9

申请日：2024-01-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王宏跃 ,  王萌 ,  贺致远 ,  陈义强

IPC: G01R31/52 ,  G01J5/48 ,  G01K11/00 ,  G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种功率器件短路瞬态结温测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：控制拍摄设备的工作时间点早于或等于待测功率器件发生短路的时间点；在所述待测功率器件发生短路的情况下，通过所述拍摄设备拍摄多张所述待测功率器件的表面图像；根据拍摄得到的多张表面图像，确定所述待测功率器件在发生短路的情况下，所述待测功率器件的表面在不同时刻对应的反射率；获取预设的映射关系，所述映射关系表征所述待测功率器件表面的反射率与温度之间的关联关系；基于不同时刻对应的反射率和所述预设的映射关系，生成所述待测功率器件处于短路状态时的结温热成像。采用本方法能够提高测试的准确性。

公开(公告)号：CN117647756A

公开(公告)日：2024-03-05

申请号：CN202410116711.9

申请日：2024-01-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王宏跃 ,  王萌 ,  贺致远 ,  陈义强

IPC: G01R31/52 ,  G01J5/48 ,  G01K11/00 ,  G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种功率器件短路瞬态结温测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：控制拍摄设备的工作时间点早于或等于待测功率器件发生短路的时间点；在所述待测功率器件发生短路的情况下，通过所述拍摄设备拍摄多张所述待测功率器件的表面图像；根据拍摄得到的多张表面图像，确定所述待测功率器件在发生短路的情况下，所述待测功率器件的表面在不同时刻对应的反射率；获取预设的映射关系，所述映射关系表征所述待测功率器件表面的反射率与温度之间的关联关系；基于不同时刻对应的反射率和所述预设的映射关系，生成所述待测功率器件处于短路状态时的结温热成像。采用本方法能够提高测试的准确性。