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公开(公告)号:CN104297737A
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:CN201410576882.6
申请日:2014-10-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明涉及一种数字阵列雷达天线的近场测试设备,包括近场测试系统,还包括DBF天线近场测试控制器,近场测试系统与DBF天线近场测试控制器之间双向通讯,DBF天线近场测试控制器与数字阵列雷达系统之间双向通讯,近场测试系统通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统进行DBF天线测试。本发明还公开了一种数字阵列雷达天线的近场测试设备的测试方法。本发明实现了近场测试系统对数字阵列雷达系统整机性能的直接测试,本发明可直接与数字阵列雷达系统进行对接,通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统时序的同步与控制,实现了近场测试系统与数字阵列雷达系统的协同工作,并且确保了数字阵列雷达系统的完整性。
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公开(公告)号:CN107991541B
公开(公告)日:2020-04-21
申请号:CN201711208600.7
申请日:2017-11-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种近场天线测试控制装置及其测试方法,包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块;本发明准确获取了由频率切换、波位切换、通道切换、数据采集及传输、存储的时间,依此计算位置误差,补偿到扫描路径中去,从而保证了扫描架双向扫描时每个测试位置点测试数据的准确性和有效性,并通过速度优化提高了测试效率。该发明可应用于雷达、通信等诸多领域的相控阵天线测试。
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公开(公告)号:CN107991541A
公开(公告)日:2018-05-04
申请号:CN201711208600.7
申请日:2017-11-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种近场天线测试控制装置及其测试方法,包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块;本发明准确获取了由频率切换、波位切换、通道切换、数据采集及传输、存储的时间,依此计算位置误差,补偿到扫描路径中去,从而保证了扫描架双向扫描时每个测试位置点测试数据的准确性和有效性,并通过速度优化提高了测试效率。该发明可应用于雷达、通信等诸多领域的相控阵天线测试。
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公开(公告)号:CN106025511A
公开(公告)日:2016-10-12
申请号:CN201610441467.9
申请日:2016-06-20
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明涉及一种低剖面共形天线。包括依次层状固定连接的馈电网络、介质基片、金属片和金属背腔板;低剖面共形天线的整体呈弧形的板条状;剖面高度为低剖面共形天线的中心频率的1/30~1/50波长,远小于波导缝隙天线和微带贴片的剖面高度,满足了现代载体对低空气阻力的要求。其中馈电网络由一个输入端和至少四个输出端组成,金属片上均布开设有至少四条辐射缝,金属背腔板的一侧面上均布开设有至少四个腔体,金属背腔板的另一侧面的中部设有同轴馈电接头。由两个以上的低剖面共形天线并列连接组成低剖面共形天线阵。本发明天线易于各种载体共形,且结构简单,加工方便。
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