公开(公告)号：CN103278311A

公开(公告)日：2013-09-04

申请号：CN201310180556.9

申请日：2013-05-16

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 韩顺利 ,  胡为良 ,  罗文健

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明提出了一种红外辐射面均匀性测量装置，包括：高分辨率小光点采样和成像光学系统、红外探测器、前置放大器、带通滤波器、主放大器及A/D转换电路、二维精密电控位移系统及其驱动电路、主控计算机及主接口电路；所述高分辨率小光点采样和成像光学系统将红外辐射面采样点聚焦于红外探测器上；所述主控计算机通过主接口电路将驱动指令传给二维精密电控位移系统；所述红外探测器将测量的红外辐射信号转换为电信号，经过前置放大器、主放大器及A/D转换电路后，送入主控计算机完成数据处理。本发明的红外辐射面均匀性测量装置结构简单，成本低；测试效率高，速度快；测点数量多，测量精度高；溯源容易。

公开(公告)号：CN103278264B

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201310180695.1

申请日：2013-05-16

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 韩顺利 ,  胡为良 ,  罗文健

IPC分类号： G01K15/00

摘要： 本发明适用于温度校正领域，提供了一种面源黑体温度准确度的校准方法，包括：步骤A：在面源黑体设定温度范围内选取M个不同的校准温度点；步骤B：利用计量标准铂电阻温度计在各个校准温度点通过校准孔对面源黑体辐射源进行温度测量，得到真实温度值Ti，并记录对应的面源黑体自身的辐射温度ti；步骤C：将各个校准温度点的面源黑体自身的辐射温度与计量标准铂电阻温度计测量的真实温度值进行线性拟合，计算出校正因子；步骤D：利用校正因子，对面源黑体温度进行校正。所述校准方法的目的是进一步校正铂电阻温度测量系统的非线性误差，在全温度范围内提高整个系统的测量精度，提高面源黑体辐射温度准确度的校准精度，满足高精度测试需求。

公开(公告)号：CN103278311B

公开(公告)日：2015-12-09

申请号：CN201310180556.9

申请日：2013-05-16

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 韩顺利 ,  胡为良 ,  罗文健

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明提出了一种红外辐射面均匀性测量装置，包括：高分辨率小光点采样和成像光学系统、红外探测器、前置放大器、带通滤波器、主放大器及A/D转换电路、二维精密电控位移系统及其驱动电路、主控计算机及主接口电路；所述高分辨率小光点采样和成像光学系统将红外辐射面采样点聚焦于红外探测器上；所述主控计算机通过主接口电路将驱动指令传给二维精密电控位移系统；所述红外探测器将测量的红外辐射信号转换为电信号，经过前置放大器、主放大器及A/D转换电路后，送入主控计算机完成数据处理。本发明的红外辐射面均匀性测量装置结构简单，成本低；测试效率高，速度快；测点数量多，测量精度高；溯源容易。

公开(公告)号：CN103278264A

公开(公告)日：2013-09-04

申请号：CN201310180695.1

申请日：2013-05-16

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 韩顺利 ,  胡为良 ,  罗文健

IPC分类号： G01K15/00

摘要： 本发明适用于温度校正领域，提供了一种面源黑体温度准确度的校准方法，包括：步骤A：在面源黑体设定温度范围内选取M个不同的校准温度点；步骤B：利用计量标准铂电阻温度计在各个校准温度点通过校准孔对面源黑体辐射源进行温度测量，得到真实温度值Ti，并记录对应的面源黑体自身的辐射温度ti；步骤C：将各个校准温度点的面源黑体自身的辐射温度与计量标准铂电阻温度计测量的真实温度值进行线性拟合，计算出校正因子；步骤D：利用校正因子，对面源黑体温度进行校正。所述校准方法的目的是进一步校正铂电阻温度测量系统的非线性误差，在全温度范围内提高整个系统的测量精度，提高面源黑体辐射温度准确度的校准精度，满足高精度测试需求。