-
公开(公告)号:CN115325906A
公开(公告)日:2022-11-11
申请号:CN202110512892.3
申请日:2021-05-11
IPC分类号: G01B5/14
摘要: 本发明涉及一种间隙测量卡尺,其特征在于,包括:主尺和副尺,主尺下部设有测量尺段,测量尺段的左侧面为基准立面,测量尺段的右侧面设有多个连续测量台阶,所有测量台阶沿上下方向连续布置以形成连续阶梯结构,副尺导向滑动装配在主尺上,对应各测量台阶,在副尺上下移动调整至副尺的定位顶压端与测量台阶的台阶平面平齐时,所述指示标所指的相应刻度线所代表的刻度表示尺寸,即为同一测量台阶的台阶立面和所述基准立面的间距。当待测间隙位置较深时,利用本发明所提供的间隙测量卡尺,可将测量结构转换至上部的刻度线处,有效解决了现有技术中测量间隙较深时检测人员无法直观获取检测结果的技术问题。