一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法

    公开(公告)号:CN116818615A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202210291738.2

    申请日:2022-03-22

    IPC分类号: G01N15/02 G01N15/14 G01N3/18

    摘要: 本发明公开了一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法,包括:步骤1,将聚乙烯原料形成薄片,薄片厚度为0.02~0.1毫米;步骤2,测试所述薄片的晶点,当所述薄片上晶点颗粒的直径≥0.5mm,或晶点数量>0.5个/m2时,判定该聚乙烯原料为不合格产品;步骤3,测定步骤2得到的非不合格产品的聚乙烯原料的熔体强度,判定所得熔体强度和晶点数量是否满足如下关系式:y≤0.19335+2.3796x‑3.73523x2;其中,y为晶点数量,单位为个/m2;x为熔体强度,单位为N;当所述熔体强度和晶点数量满足上述关系式时,该聚乙烯原料为合格产品。本发明评价方法能够对原料是否合格进行快速判断。