基于蒙特卡罗模拟的膏质砂岩储层中子孔隙度校正方法

    公开(公告)号:CN115492568A

    公开(公告)日:2022-12-20

    申请号:CN202110680217.1

    申请日:2021-06-18

    IPC分类号: E21B47/00 E21B49/00

    摘要: 本发明提供了一种基于蒙特卡罗模拟的膏质砂岩储层中子孔隙度校正方法,包括:步骤S10:选取不同的岩心样品,对含有硬石膏的岩心进行全岩矿物分析确定出其硬石膏含量;步骤S20:对含硬石膏砂岩的常规测井曲线进行响应特征分析并选择反映硬石膏含量的敏感测井曲线;步骤S30:利用敏感测井曲线构建一条能综合反映硬石膏含量的曲线;步骤S40:采用蒙特卡罗模拟定性的分析在地层条件下,不同硬石膏含量对热中子计数率的影响并转化为对中子孔隙度的影响;步骤S50:建立中子孔隙度校正量与硬石膏含量之间的关系式;步骤S60:利用中子孔隙度校正量与硬石膏含量之间的关系式对中子孔隙度曲线进行校正。本发明解决了现有技术中膏质砂岩储层中子孔隙度偏小的问题。

    砂砾岩渗透率校正方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN117629833A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202210961552.3

    申请日:2022-08-11

    IPC分类号: G01N15/08

    摘要: 本发明公开了一种砂砾岩渗透率校正方法、装置及电子设备。其中,该方法包括:获取目标砂砾岩的目标孔隙度与目标测井值;依据目标测井值,确定目标砂砾岩的目标流动单元指数与目标黏土含量;依据目标孔隙度与目标流动单元指数,确定目标砂砾岩的初始渗透率;依据目标孔隙度与目标黏土含量,校正初始渗透率,得到目标砂砾岩的目标渗透率。本发明解决了相关技术中确定砂砾岩的渗透率时,得到的渗透率准确度较低,与实际渗透率相差较大的技术问题。