偏光膜的测试光路及测试方法

    公开(公告)号:CN116465857A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310296121.4

    申请日:2023-03-22

    Abstract: 本发明公开了一种偏光膜的测试光路及测试方法,用于检测偏光膜的耐久性,包括:可调谐量子级联激光器控制器,用于触发电信号;可调谐量子级联激光器,与可调谐量子级联激光器控制器形成电信号连接,用于发出与电信号相对应的光信号;分束镜,设置在光信号的路径上,用于将光信号分为第一光束和第二光束;高时间分辨红外探测器,设置在第一光束的路径上,用于探测第一光束透过偏光膜后的发光强度,并转化为电信号;光学反射镜片,设置在第二光束的路径上,用于反射第二光束;信号收集系统,与所述高时间分辨红外探测器形成电信号连接,用于收集红外透过率的数据。本发明提供的偏光膜的测试光路能够在偏光膜的生产过程中原位检测偏光膜的耐久性。

    偏光片及其制备方法、及一种显示设备

    公开(公告)号:CN116408999A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310211655.2

    申请日:2023-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种偏光片及其制备方法、及一种显示设备,制备方法包括以下步骤:设置第一碘染拉伸槽,在所述第一碘染拉伸槽中将PVA材料第一次染色并第一次拉伸,得到第一中间产物;设置第二碘染拉伸槽,在所述第二碘染拉伸槽中将所述第一中间产物第二次染色并第二次拉伸,得到第二中间产物;对所述第二中间产物进行干燥后涂布粘接剂,并贴合TAC膜,得到偏光片;所述第一次染色所用溶液中不包括硼酸,所述第二次染色所用溶液中包括硼酸,第一次染色拉伸中PVA薄膜拉伸比为1.6‑2.5,整个拉伸过程PVA薄膜总拉伸比为3.5‑5。本发明提供的偏光片具有优异的抗曲翘性能。

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