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公开(公告)号：CN112729777A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011486355.8
申请日：2020-12-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种数字化光轴的高精度复现装置，包括：基准点标定机构、激光器、小孔板、第一对准板、第二对准板、高精度坐标约束机构和光场成像分析装置。本发明通过高精度约束三个数字化光轴基准点的三维空间坐标，确保模拟光束高精度穿过数字化光轴基准点，所得到的实体化光轴复现精度高、误差可测，并且复现装置易于操作、重复性好、稳定性高，可用于数字化的坐标网络体系下各类光机组件的装调和装置的集成。
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公开(公告)号：CN115127779B
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202210686460.9
申请日：2022-06-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种高功率激光系统的色散测量方法，该方法涉及光器件测量技术以及激光技术等领域。该方法基于超短脉冲激光的光谱整形，通过设计特殊的光谱响应曲线获得具有指纹光谱结构、变换极限脉宽的激光脉冲。根据频时映射原理，具有指纹光谱结构的激光脉冲在经过色散介质(待测对象)传输后，其激光脉冲的频域分布(即光谱)会映射到时域，呈现出频域分布与时域波形一一对应的状态。通过测量接入色散组件后的激光脉冲光谱及时域波形等信息，并与泰勒展开的色散模型进行拟合及数据分析处理，实现对高功率激光系统中各组件的色散测量，例如展宽器，压缩器等。该方法通过构建具有特殊结构的指纹光谱进行测量，不仅可以实现高功率激光系统色散的快速精密诊断，获得高阶色散的解构，还可以通过增加采样数据点，降低数据统计波动以及测量的不确定度，提高色散测量的精度。
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公开(公告)号：CN116470382A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310285659.5
申请日：2023-03-22
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: H01S3/1106 , H01S3/10
Abstract: 一种外时钟同步的固体锁模激光器及数字化锁频调相装置和方法，包括锁模激光谐振腔，腔长调节系统，锁频系统，调相系统与外时钟信号源；锁模激光谐振腔用于产生锁模激光脉冲序列，腔长调节系统用于将脉冲光信号转化成的电信号进行处理，并与外时钟信号分别倍频后，通过与本地时钟混频、模数转换、鉴相、数模转换、滤波及放大后输出反馈信号驱动腔长调节系统，实现与外时钟锁频功能。调相系统可以在一个脉冲周期内高精度地调节激光序列与外时钟信号源之间的相位差。本发明实现了锁模激光与外时钟的数字化同步，并且具备激光脉冲序列的自动调相功能，可实现激光脉冲时延的高精度任意可调，适用于激光惯性约束聚变、时频信号传输与量子纠缠等领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112759276B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110006705.4
申请日：2021-01-05
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: C03C17/02
Abstract: 本发明公开了一种熔石英光学元件表面缺陷的增材修复方法及装置，所述方法首先全部清除熔石英光学元件表面缺陷及其周围受影响区域的材料，然后以二氧化碳激光为热源，采用化学气相沉积的方法在缺陷清除后留下的凹坑内高精度沉积新的熔石英材料来填充凹坑至熔石英元件表面平整并原位进行激光退火。本发明通过激光化学气相沉积和激光退火进行熔石英元件表面缺陷的增材修复，确保了缺陷修复后表面光滑平整，大大提高了熔石英光学元件的抗损伤能力。并且，该方法具有位置精度高、沉积量可控、速度快的特点，能够有选择性地修复表面的缺陷点而不对元件其他区域造成破坏，适用于划痕、杂质、裂纹、损伤点等任意种类缺陷的修复。
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公开(公告)号：CN116404515A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310316380.9
申请日：2023-03-28
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: H01S3/13 , G01J11/00 , H01S3/1106
Abstract: 一种超短脉冲激光系统的色散调控装置与方法，装置包括光源系统，色散检测系统以及控制系统。光源系统由窄带可调谐光源、波长计、振幅调制器、电放大器及射频信号源构成，用于实现光信号的波长调节和振幅调制。色散检测系统由高速光电二极管、矢量网络分析仪构成，用于测量超短脉冲激光系统的群延迟及色散，并将结果提供给控制系统。控制系统用于控制光源系统的输出波长，实现光学扫频，并根据色散检测系统的测量结果，输出控制信号用于分别调节超短脉冲激光系统内的微调压缩器以及延时调节器，并通过循环迭代实现系统群延迟色散以及群延迟的精确调控。在该方法中，不同中心波长的光信号通过待测系统，并经光电二极管转换成高频电信号后，只需要测量不同电信号间的相位变化量，就能实现对激光系统的色散测量，不仅适用于超短脉冲激光系统的色散调控，也适用于单个组件的色散标定。
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公开(公告)号：CN115127779A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210686460.9
申请日：2022-06-16
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种用于高功率激光系统的色散测量方法，该方法涉及光器件测量技术以及激光技术等领域。该方法基于超短脉冲激光的光谱整形，通过设计特殊的光谱响应曲线获得具有指纹光谱结构、变换极限脉宽的激光脉冲。根据频时映射原理，具有指纹光谱结构的激光脉冲在经过色散介质(待测对象)传输后，其激光脉冲的频域分布(即光谱)会映射到时域，呈现出频域分布与时域波形一一对应的状态。通过测量接入色散组件后的激光脉冲光谱及时域波形等信息，并与泰勒展开的色散模型进行拟合及数据分析处理，实现对高功率激光系统中各组件的色散测量，例如展宽器，压缩器等。该方法通过构建具有特殊结构的指纹光谱进行测量，不仅可以实现高功率激光系统色散的快速精密诊断，获得高阶色散的解构，还可以通过增加采样数据点，降低数据统计波动以及测量的不确定度，提高色散测量的精度。
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公开(公告)号：CN112759276A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202110006705.4
申请日：2021-01-05
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: C03C17/02
Abstract: 本发明公开了一种熔石英光学元件表面缺陷的增材修复方法及装置，所述方法首先全部清除熔石英光学元件表面缺陷及其周围受影响区域的材料，然后以二氧化碳激光为热源，采用化学气相沉积的方法在缺陷清除后留下的凹坑内高精度沉积新的熔石英材料来填充凹坑至熔石英元件表面平整并原位进行激光退火。本发明通过激光化学气相沉积和激光退火进行熔石英元件表面缺陷的增材修复，确保了缺陷修复后表面光滑平整，大大提高了熔石英光学元件的抗损伤能力。并且，该方法具有位置精度高、沉积量可控、速度快的特点，能够有选择性地修复表面的缺陷点而不对元件其他区域造成破坏，适用于划痕、杂质、裂纹、损伤点等任意种类缺陷的修复。
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公开(公告)号：CN117937213A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410067061.3
申请日：2024-01-17
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于光纤四波混频的超短激光脉冲整形装置，包括超短脉冲产生系统、光谱整形系统、四波混频时域透镜系统、脉冲输出及检测系统以及控制模块，四波混频时域透镜系统包括带通滤波器II、脉冲展宽器II、可调延时线、放大器II、光纤合束器及四波混频器，用于脉冲频时映射并实现啁啾消除。脉冲输出及检测系统包括输出滤波器、脉冲压缩器、光纤耦合及分束器II及波形检测单元，用于实现脉冲序列的子脉冲压缩及输出，并将脉冲波形信号传输到控制系统，控制系统将接收到的波形检测信号与预设信号进行比对，并输出反馈调节信号给光谱整形系统，实现激光脉冲整形的闭环控制。本发明用于输出消啁啾的任意整形脉冲序列，具有较低系统复杂度的优势。
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