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公开(公告)号：CN105066905A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510428767.9
申请日：2015-07-20
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 一种小波变换轮廓术抑噪方法，该方法包括光学条纹图像的采集、进行二维连续小波变换、提取小波脊3个步骤。本发明具有较强的噪声抑制能力和较快的速度。利用本发明，当CCD摄像机采集的光学条纹图像中含有较强噪声时，小波变换轮廓术仍然能够实现高精度三维面形测量。
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公开(公告)号：CN105066905B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201510428767.9
申请日：2015-07-20
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 一种小波变换轮廓术抑噪方法，该方法包括光学条纹图像的采集、进行二维连续小波变换、提取小波脊3个步骤。本发明具有较强的噪声抑制能力和较快的速度。利用本发明，当CCD摄像机采集的光学条纹图像中含有较强噪声时，小波变换轮廓术仍然能够实现高精度三维面形测量。
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公开(公告)号：CN104406702B
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201410655245.8
申请日：2014-11-18
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01J11/00
摘要： 一种光束准直性检测方法，该方法包括纯莫尔条纹提取、一维条纹信息获取、小波变换、条纹周期计算和光束发散角计算5个步骤。本发明具有较强的噪声抑制能力，当CCD摄像机采集的双螺旋莫尔条纹图像中含有较强噪声时，仍然能够实现高精度光束准直性定量检测。
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公开(公告)号：CN105426898A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510862274.6
申请日：2015-11-30
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC分类号： G06K9/527 , G06T2207/20064
摘要： 一种基于非下采样轮廓波变换的光学条纹图背景光成分抑制方法，包括光学条纹图的采集、非下采样轮廓波变换最佳分解层数确定、非下采样轮廓波变换分解、非下采样轮廓波变换系数收缩4个步骤。本发明提高了现有方法对光学条纹图背景光成分的抑制效果，实现了光学条纹图背景光成分有效抑制。
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公开(公告)号：CN105426898B
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201510862274.6
申请日：2015-11-30
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种基于非下采样轮廓波变换的光学条纹图背景光成分抑制方法，包括光学条纹图的采集、非下采样轮廓波变换最佳分解层数确定、非下采样轮廓波变换分解、非下采样轮廓波变换系数收缩4个步骤。本发明提高了现有方法对光学条纹图背景光成分的抑制效果，实现了光学条纹图背景光成分有效抑制。
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公开(公告)号：CN104406702A
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201410655245.8
申请日：2014-11-18
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01J11/00
摘要： 一种光束准直性检测方法，该方法包括纯莫尔条纹提取、一维条纹信息获取、小波变换、条纹周期计算和光束发散角计算5个步骤。本发明具有较强的噪声抑制能力，当CCD摄像机采集的双螺旋莫尔条纹图像中含有较强噪声时，仍然能够实现高精度光束准直性定量检测。
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