13.5nm极紫外滤波器的制作方法

    公开(公告)号:CN1800886A

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN200610023269.7

    申请日:2006-01-12

    Abstract: 一种13.5nm极紫外滤波器的制作方法,包括下列步骤:1)加工一个铝框架,将无定形碳薄膜黏附在该铝框架上,该无定形碳薄膜的厚度为0.1~1μm;2)将所述的铝框架放入在真空镀膜机中,采用硅单晶作镀膜材料,在所述的无定形碳薄膜上真空蒸镀一层硅单晶薄膜,其厚度为0.1~0.2μm,即构成13.5nm极紫外滤波器。将制成的滤波器放置在真空室内,使镀硅膜的滤波器的那一面的法线和来自于极紫外光源的极紫外线成85°掠入射角,掠出射的极紫外线中,无论是长于或短于13.5nm的其余极紫外光线将被滤去,13.5nm的极紫外线的透过率将高达70%。

    用羽毛检测X射线源相干性的方法

    公开(公告)号:CN1673724A

    公开(公告)日:2005-09-28

    申请号:CN200510024989.0

    申请日:2005-04-08

    Abstract: 一种用羽毛检测X射线源相干性的方法,其特征在于包括下列步骤:①建立X射线衍射增强成像的装置:由按X射线源的X射线的前进方向依次设置的单色器晶体、样品台、分析晶体和记录介质组成;②将天然羽毛置于所述的样品台上;③打开X射线源,记录介质上即记录下天然羽毛衍射增强成像的图像;④对记录了图像的记录介质进行显影、定影、吹干;⑤对记录介质上的图像进行分析,对所述的X射线源的相干性进行评价。本发明利用天然鸟毛,成本低,方法简易方便,还可进行定量测量。

    X射线散斑装置及其在微位移测量中的应用

    公开(公告)号:CN1632450A

    公开(公告)日:2005-06-29

    申请号:CN200510023203.3

    申请日:2005-01-10

    Abstract: 一种X射线散斑装置及其在微位移测量中的应用,所述的X射线散斑装置包括X射线散斑成像装置和读出装置两部分,所述的X射线散斑成像装置由X射线源、待测物、微波带片和记录介质组成,所述的待测物置于X射线源输出的光路上,该待测物的法线与X射线光轴成一夹角θ,所述的微波带片和记录介质与待测物的法线同轴,所述的读出装置由同轴放置的He-Ne激光器、记录有散斑图样的照片和成像屏组成。本发明的X射线散斑装置工作在X射线波段,测试精度较可见光要高3~4数量级,由于采用微波带片预放大,结构非常简单,具有很高的学术价值和应用前景,将填补微位移测量的空白。

    均匀照明的脉冲全息装置

    公开(公告)号:CN1587999A

    公开(公告)日:2005-03-02

    申请号:CN200410054073.5

    申请日:2004-08-27

    Abstract: 一种均匀照明的脉冲全息装置,包括一脉冲激光器,在该脉冲激光器光束前进的方向上,依次有扩束望远镜、分束器和第一全反射镜,在该第一全反射镜的反射光路上依次有待测物和第三全反射镜,由第三全反射镜的反射光经第二成像透镜进入探测器,所述分束器的反射光束B经第二全反射镜和第一成像透镜进入探测器,其特征是在该第一全反射镜和待测物之间设有一毛玻璃,该毛玻璃上有一层食用油。本发明采用毛玻璃上涂油的方法,可保证待测物能获得均匀照明,从而降低了对激光光束均匀性的要求。

    中子干涉仪中位相恢复方法

    公开(公告)号:CN100442044C

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200410093018.7

    申请日:2004-12-15

    Abstract: 一种中子干涉仪中位相恢复方法,包括以下几个步骤:1)拍摄一张不含有物体位相信息的中子干涉图形;2)再拍摄一张含有物体信息的中子干涉图形;3)将不含有物体位相信息的中干涉图形照片放置在4f光学系统中,拍摄一张空间频谱照片,即载波条纹的空间频谱,进行原位显影、定影、吹干;4)在一4f光学系统中,将不含有物体信息的中子干涉图形照片取走,放置一张含有物体信息的中子干涉图形,再进行光学信息处理,由于在4f系统中已放置一张含有载波条纹空间频谱的照片,因此载波条纹将不能通过此光学系统,获得的将是一张物体位相信息的等高图。

    13.5nm极紫外滤波器的制作方法

    公开(公告)号:CN100357768C

    公开(公告)日:2007-12-26

    申请号:CN200610023269.7

    申请日:2006-01-12

    Abstract: 一种13.5nm极紫外滤波器的制作方法,包括下列步骤:1)加工一个铝框架,将无定形碳薄膜黏附在该铝框架上,该无定形碳薄膜的厚度为0.1~1μm;2)将所述的铝框架放入在真空镀膜机中,采用硅单晶作镀膜材料,在所述的无定形碳薄膜上真空蒸镀一层硅单晶薄膜,其厚度为0.1~0.2μm,即构成13.5nm极紫外滤波器。将制成的滤波器放置在真空室内,使镀硅膜的滤波器的那一面的法线和来自于极紫外光源的极紫外线成85°掠入射角,掠出射的极紫外线中,无论是长于或短于13.5nm的其余极紫外光线将被滤去,13.5nm的极紫外线的透过率将高达70%。

    时间分辨X射线衍射层析装置

    公开(公告)号:CN1264011C

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN200410017492.1

    申请日:2004-04-06

    Abstract: 一种时间分辨X射线衍射层析装置,其特征在于它的构成为:包括飞秒激光系统,在飞秒激光系统的激光输出光路上设一半反射半透过介质膜板,在该半反射半透过介质膜板的透射光路依次为经由三块全反射介质膜板构成的光学延迟线和位于转动平台上的样品,在该半反射半透过介质膜板的反射光路上依次为全反射介质膜板、凹面反射镜、固体靶、样品、探测器,所述的凹面反射镜、固体靶、转动平台和样品同处一真空室内。本发明装置能够记录和重构三维物体的动态过程,又由于使用了光学延迟线,能够给出不同时刻的瞬态空间动力学分布,对于晶体热熔化和非热熔化无序过程、以及晶体中的应变过程的观察特别适合。

    超快时间分辨X射线谱仪
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1687762A

    公开(公告)日:2005-10-26

    申请号:CN200510025559.0

    申请日:2005-04-29

    Abstract: 一种超快时间分辨X射线谱仪,包括飞秒激光器,其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器,该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品,构成对样品的作用光束,在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上,该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上,探测作用光束产生瞬态结构变化的过程,然后入射在硅单晶上,产生的光谱色散被探测器接收,显示在计算机上。本发明可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。

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