层数可控石墨烯的生长方法

    公开(公告)号:CN103265021B

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201310207387.3

    申请日:2013-05-29

    Abstract: 本发明提供一种层数可控石墨烯的生长方法,至少包括以下步骤:1)提供一Cu衬底,在所述Cu衬底上形成一Ni层;2)采用离子注入法在所述Ni层中注入C;3)对步骤2)形成的结构进行退火处理使得所述Cu衬底中的部分Cu进入所述Ni层中形成Ni-Cu合金,而Ni层中注入的C被进入所述Ni层中的Cu从Ni层中挤出,在所述Ni-Cu合金表面重构形成石墨烯。本发明获得的石墨烯薄膜具有质量好、大尺寸且层数可控的优势,且易于转移。另外,离子注入技术、退火技术在目前半导体行业都是非常成熟的工艺,本发明的层数可控石墨烯的生长方法将能更快地推动石墨烯在半导体工业界的广泛应用。

    剥离位置精确可控的绝缘体上材料的制备方法

    公开(公告)号:CN104752309B

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201310732418.7

    申请日:2013-12-26

    Abstract: 本发明提供种剥离位置精确可控的绝缘体上材料的制备方法,包括以下步骤:S1:提供Si衬底,在其表面外延生长掺杂单晶层;所述掺杂单晶层厚度大于15 nm;S2:在所述掺杂单晶层表面外延生长单晶薄膜;S3:在所述单晶薄膜表面形成SiO层;S4:进行离子注入,使离子峰值分布在所述SiO层以下预设范围内;S5:提供表面具有绝缘层的基板与所述单晶薄膜表面的SiO层键合形成键合片,并进行退火以使所述键合片在预设位置剥离,得到绝缘体上材料。本发明利用较厚掺杂单晶层对注入离子的吸附作用,并控制注入深度,使剥离界面为所述掺杂单晶层的上表面、下表面或其中离子分布峰值处,从而达到精确控制剥离位置的目的。

    剥离位置精确可控的绝缘体上材料的制备方法

    公开(公告)号:CN104752309A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201310732418.7

    申请日:2013-12-26

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L21/76259

    Abstract: 本发明提供一种剥离位置精确可控的绝缘体上材料的制备方法,包括以下步骤:S1:提供一Si衬底,在其表面外延生长一掺杂单晶层;所述掺杂单晶层厚度大于15nm;S2:在所述掺杂单晶层表面外延生长一单晶薄膜;S3:在所述单晶薄膜表面形成一SiO2层;S4:进行离子注入,使离子峰值分布在所述SiO2层以下预设范围内;S5:提供一表面具有绝缘层的基板与所述单晶薄膜表面的SiO2层键合形成键合片,并进行退火以使所述键合片在预设位置剥离,得到绝缘体上材料。本发明利用较厚掺杂单晶层对注入离子的吸附作用,并控制注入深度,使剥离界面为所述掺杂单晶层的上表面、下表面或其中离子分布峰值处,从而达到精确控制剥离位置的目的。

    层数可控石墨烯的生长方法

    公开(公告)号:CN103265021A

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN201310207387.3

    申请日:2013-05-29

    Abstract: 本发明提供一种层数可控石墨烯的生长方法,至少包括以下步骤:1)提供一Cu衬底,在所述Cu衬底上形成一Ni层;2)采用离子注入法在所述Ni层中注入C;3)对步骤2)形成的结构进行退火处理使得所述Cu衬底中的部分Cu进入所述Ni层中形成Ni-Cu合金,而Ni层中注入的C被进入所述Ni层中的Cu从Ni层中挤出,在所述Ni-Cu合金表面重构形成石墨烯。本发明获得的石墨烯薄膜具有质量好、大尺寸且层数可控的优势,且易于转移。另外,离子注入技术、退火技术在目前半导体行业都是非常成熟的工艺,本发明的层数可控石墨烯的生长方法将能更快地推动石墨烯在半导体工业界的广泛应用。

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