超导纳米线单光子探测器膜厚测试结构、方法及制备方法

    公开(公告)号:CN119374502A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202310932927.8

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明提供一种超导纳米线单光子探测器膜厚测试结构、方法及制备方法,所述膜厚测试结构包括从下至上依次层叠设置的衬底、底反射层、超导膜层、介质材料层及顶反射层;其中,所述底反射层、所述超导膜层、所述介质材料层及所述顶反射层形成光学微腔结构;所述底反射层及所述顶反射层作为所述光学微腔结构的两个反射面;所述超导膜层及所述介质材料层作为所述光学微腔结构的间隔层。本发明提供的超导纳米线单光子探测器膜厚测试结构、方法及制备方法,能够解决现有膜厚测试手段无法准确测试得到超导纳米线单光子探测器的超导膜层膜厚的问题。

    提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统及方法

    公开(公告)号:CN110031094B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201910334409.X

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 本发明提供一种提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统及方法,包括:若干个单光子探测器;若干个读出电路,各读出电路的输入端与各单光子探测器的输出端一一对应连接;若干个电平转换电路,各电平转换电路的输入端与各读出电路的输出端一一对应连接;合路器,合路器的输入端与各电平转换电路的输出端相连接。本发明的提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统可以将响应光子数较多时将读出电路的输出信号中波峰与波峰之间区分开,从而可以获得高光子数分辨探测动态范围;可以在保证单光子探测器探测效率的同时,提高单光子探测器的信噪比,从而提高单光子探测器统计数据的准确性。

    提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统及方法

    公开(公告)号:CN110031094A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201910334409.X

    申请日:2019-04-24

    Abstract: 本发明提供一种提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统及方法,包括:若干个单光子探测器;若干个读出电路,各读出电路的输入端与各单光子探测器的输出端一一对应连接;若干个电平转换电路,各电平转换电路的输入端与各读出电路的输出端一一对应连接;合路器,合路器的输入端与各电平转换电路的输出端相连接。本发明的提高单光子探测器的光子数分辨率能力的系统可以将响应光子数较多时将读出电路的输出信号中波峰与波峰之间区分开,从而可以获得高光子数分辨探测动态范围;可以在保证单光子探测器探测效率的同时,提高单光子探测器的信噪比,从而提高单光子探测器统计数据的准确性。

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