一种超长线列拼接探测器分布式冷光阑结构

    公开(公告)号:CN107121200A

    公开(公告)日:2017-09-01

    申请号:CN201710563664.2

    申请日:2017-07-12

    IPC分类号: G01J5/08

    CPC分类号: G01J5/0803

    摘要: 本发明公开了一种超长线列拼接探测器分布式冷光阑结构,包括分立通光窗口、分立冷光阑、分立滤光片组件、超长线列拼接探测器组件和冷平台。分立通光窗口通过钎焊安装在冷平台外罩的凹槽中。分立冷光阑用螺钉固定在分立滤光片组件上。分立滤光片组件用螺钉安装在冷平台的冷板上。超长线列拼接探测器组件胶结固定在冷平台的冷板上。超长线列拼接探测器组件中的拼接探测器呈品字形排列,每个拼接探测器都有一组相同的分立通光窗口、分立冷光阑和分立滤光片组件。成像光束依次通过分立通光窗口、分立冷光阑和分立滤光片组件,到达超长线列拼接探测器组件。本发明能够大幅度抑制背景辐射,提高焦面辐照度均匀性,还能拟合成像畸变,改善成像质量。

    一种空间相机光电系统综合测试平台

    公开(公告)号:CN116347065A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310332422.8

    申请日:2023-03-31

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 本发明公开了一种空间相机光电系统综合测试平台,包括平行光管,光源和靶标组件,水平和竖直两维平移台,方位和俯仰两维转台。被测空间相机安装在方位俯仰两维转台上,平行光管安装在水平竖直两维平移台上,平移台和转台的每个运动轴带有位移测量装置。调节转台的方位俯仰角度和平移台竖直水平位置的组合,使被测空间相机当前视场的通光孔径与平行光管的通光孔径对准。光源和靶标组件安装在平行光管焦面上,经过平行光管的扩束准直产生测试波前,输入被测空间相机的光电系统。本发明通过被测空间相机的转角和平行光管的位置之间的定量化解耦调节,降低了测试工装和设备的复杂度,在此平台上可实现空间相机光电系统各项参数的装调测试。

    一种光学系统点扩散函数能量集中度测量方法

    公开(公告)号:CN118225396A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410346610.0

    申请日:2024-03-26

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明提供了一种光学系统点扩散函数能量集中度测量方法,涉及光学检测技术领域,特别涉及光学系统点扩散函数能量集中度的测量。该方法用于提高光斑能量集中度计算的精度,获得更准确的像质结果,对光学调焦和图像质量分析具有较好的应用效果。通过样本的三次样条插值拟合,能够获得更接近真实光斑形态的三维曲面,与传统的固定目标函数算法相比,精度有明显的提高。在本底改正的基础上,针对不同位置光斑进行杂散光抑制处理,可以得到较为平坦的背景。再利用上述所得到的能量矩阵逐点进行质心修正,以质心为中心做同心圆。对步长进行调节,可以得到不同像素精度下的能量集中度,满足不同试验需求下对待测系统精度或识别性能的需求。

    一种不完善成像离轴三反光路的补偿器及设计方法

    公开(公告)号:CN117270182A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202311086008.X

    申请日:2023-08-28

    IPC分类号: G02B17/08 G02B27/00

    摘要: 本发明公开了一种不完善成像离轴三反光路补偿器的结构和设计方法,其核心特征是在不完善成像离轴三反光路前插入一组透镜和一个折返反射镜作为补偿器,以设计状态的整体光路和离轴三反光路作为约束条件,建立多重配置对补偿光路进行像质优化,从而确定最佳的补偿器参数。补偿器的面型是球面、平面、自由曲面等面型一种或多种组合,透镜组是一片或多片,同时根据干涉仪波段进行透镜材料选择和镀膜处理。本发明解决了不完善成像离轴三反光路难以单独进行准确装调测试的问题,使用上述补偿器等效替代前光路的光焦度和像差,可独立对不完善成像离轴三反光路进行检测和调试,从而得到与设计一致的光路状态。

    一种拼接探测器综合误差的补偿结构

    公开(公告)号:CN114415256A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210170311.7

    申请日:2022-02-24

    IPC分类号: G01V8/10 G01V13/00 G02B23/00

    摘要: 本发明公开了一种拼接探测器综合误差的补偿结构,即在现有光电遥感仪器的望远镜或成像光学系统和拼接探测器之间安装不同光学厚度的分立补偿片。分立补偿片根据光电仪器的工作波段进行光学镀膜处理,依次安装在对应的拼接探测器组件与现有光电遥感仪器的望远镜或成像光学系统之间,既可以直接固定在拼接探测器组件上,也可以通过胶结或压板固定在望远镜光机结构的上。本发明能够补偿拼接探测器在高度或深度方向的机械拼接误差和温度变形,校正大视场望远镜或光学镜头的场曲,补偿拼接探测器窗口片或滤光片等分立光学元件的附加光程差,降低大规模拼接探测器的拼接难度,等效实现拼接探测器的共焦面设计,保证拼接探测器全视场的成像质量。

    一种基于校正镜组的多波段离轴三反光学系统

    公开(公告)号:CN116560057A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310026838.7

    申请日:2023-01-09

    IPC分类号: G02B17/06 G02B27/00

    摘要: 本发明公开了一种基于校正镜组的多波段离轴三反光学系统,包括主镜、次镜、三镜、校正镜组和焦面。每个波段的成像光线经过共同的主镜、次镜和三镜,然后经过相对独立的校正镜组,到达对应的焦面。所述的主镜、次镜、三镜和校正镜组共用同一个光轴;每个波段的校正镜组由单片或多片透镜组成,透镜材料可以是一种或多种,并根据当前工作波段进行镀膜处理。三个反射镜和校正镜组的透镜面型是平面、球面、非球面或自由曲面的某一种。本发明既利用了离轴三反易于实现大孔径和大视场的优点,又不依赖分色片,既能同时实现多个波段完善成像,又简化光路结构,提高光学效率。

    一种不完善成像离轴三反光路补偿器及其设计方法

    公开(公告)号:CN116224616A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310296498.X

    申请日:2023-03-24

    IPC分类号: G02B27/62 G02B27/00 G02B17/06

    摘要: 本发明公开了一种不完善成像离轴三反光路的补偿器及其设计方法,其核心特征是在不完善成像离轴三反光路中插入一组透镜作为补偿器,以设计状态包含前光路和离轴三反后光路的整体光路为约束,建立多个配置对光路进行优化,使多个配置的弥散斑或波像差同时最小化,得到最佳的补偿器参数。补偿器的透镜组可以是一片或多片,透镜面形可以是球面、平面、自由曲面或衍射面的一种或多种的组合,透镜材料根据干涉仪工作波段进行选择和镀膜处理。本发明解决了不完善成像离轴三反光路难以单独进行准确装调测试的问题,使用上述补偿器替代前光路的光焦度和像差,可以独立对不完善成像离轴三反光路进行干涉检测和装调,并且能够得到与设计一致的光路状态。

    一种离轴三反光学系统补偿器及其设计方法

    公开(公告)号:CN115508992A

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202211112889.3

    申请日:2022-09-14

    IPC分类号: G02B17/06 G02B27/00

    摘要: 本发明公开了一种离轴三反光学系统补偿器及其设计方法,其核心特征是在离轴三反自准直干涉光路的干涉仪焦点前插入一定厚度的光学平板作为补偿器,用于补偿窗口、滤光片等后光路元件的像差。在离轴三反设计光路的约束下,通过建立多个光路配置对带有补偿器的自准直干涉光路模型进行优化,从而得到最佳的光学平板厚度。光学平板补偿器的材料根据干涉仪的工作波段进行选择和光学镀膜处理。本发明简单明确,能够大幅度减少离轴三反光学系统装调测试的偏差,提高离轴三反自准直干涉测试的效率和准确性,特别适合中波红外或长波红外离轴三反光学系统等后光路带有窗口片、滤光片片等平板元件离轴三反光学系统的装调测试。

    超长线列拼接探测器分布式冷光阑结构

    公开(公告)号:CN207007345U

    公开(公告)日:2018-02-13

    申请号:CN201720838866.9

    申请日:2017-07-12

    IPC分类号: G01J5/08

    摘要: 本专利公开了一种超长线列拼接探测器分布式冷光阑结构,包括分立通光窗口、分立冷光阑、分立滤光片组件、超长线列拼接探测器组件和冷平台。分立通光窗口通过钎焊安装在冷平台外罩的凹槽中。分立冷光阑用螺钉固定在分立滤光片组件上。分立滤光片组件用螺钉安装在冷平台的冷板上。超长线列拼接探测器组件胶结固定在冷平台的冷板上。超长线列拼接探测器组件中的拼接探测器呈品字形排列,每个拼接探测器都有一组相同的分立通光窗口、分立冷光阑和分立滤光片组件。成像光束依次通过分立通光窗口、分立冷光阑和分立滤光片组件,到达超长线列拼接探测器组件。本专利能够大幅度抑制背景辐射,提高焦面辐照度均匀性,还能拟合成像畸变,改善成像质量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    基于校正镜组的多波段离轴三反光学系统

    公开(公告)号:CN218974672U

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202320053057.2

    申请日:2023-01-09

    IPC分类号: G02B17/06 G02B27/00

    摘要: 本专利公开了一种基于校正镜组的多波段离轴三反光学系统,包括主镜、次镜、三镜、校正镜组和焦面。每个波段的成像光线经过共同的主镜、次镜和三镜,然后经过相对独立的校正镜组,到达对应的焦面。所述的主镜、次镜、三镜和校正镜组共用同一个光轴;每个波段的校正镜组由单片或多片透镜组成,透镜材料可以是一种或多种,并根据当前工作波段进行镀膜处理。三个反射镜和校正镜组的透镜面型是平面、球面、非球面或自由曲面的某一种。本专利既利用了离轴三反易于实现大孔径和大视场的优点,又不依赖分色片,既能同时实现多个波段完善成像,又简化光路结构,提高光学效率。