公开(公告)号：CN102749187A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210244004.5

申请日：2012-07-13

申请人： 中国科学院光电技术研究所

发明人： 刘洪祥 ,  刘志国 ,  庞薇

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光学薄膜的偏振保真度；通过此方法可以测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。该测量装置具有结构简单，成本低，操作方便等优点。

公开(公告)号：CN104406914A

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201410693840.0

申请日：2014-11-26

申请人： 中国科学院光电技术研究所

发明人： 庞薇 ,  刘洪祥 ,  刘志国

IPC分类号： G01N21/21

摘要： 本发明提供一种使用椭偏仪测量光学薄膜偏振保真度的方法，根据椭圆偏振光的理论基础，建立光学薄膜的偏振保真度与相位延迟之间关系，再通过可变角椭偏仪测量线偏振光经过单个光学薄膜元件反射后的相位延迟，确定光学薄膜的偏振保真度。该方法具有简单，方式灵活，测量速度快，应用范围广等优点。

公开(公告)号：CN102749187B

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201210244004.5

申请日：2012-07-13

申请人： 中国科学院光电技术研究所

发明人： 刘洪祥 ,  刘志国 ,  庞薇

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光学薄膜的偏振保真度；通过此方法可以测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。该测量装置具有结构简单，成本低，操作方便等优点。