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公开(公告)号：CN111692976B
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202010512927.9
申请日：2020-06-08
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明公开了一种温度形变自补偿的数显长度基准装置，包括基准尺、多个温度采集探头，数据处理模块、数字显示屏；尺体设有多个供仪器校准使用的靶标底座锥形孔，同时在基准尺体设有用于放置温度采集探头的孔位；所述温度采集探头一端通过传输线与数据处理模块连接，另一端安装在基准尺探头孔位中并确保与孔壁贴合；所述的数据处理模块，将相邻两个温度采集探头之间采集的温度信号转换为长度补偿数据，从而获得现场工况温度下的基准尺在补偿后实际长度，并显示在数字显示屏上。本发明可以有效解决在现场工况下因基准尺的材料温度、环境温度变化以及温度梯度不一致而引起的基准误差，为仪器现场校准提供高精度的基准长度，从而保障和提高现场测量精度。
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公开(公告)号：CN107063083A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201611063335.3
申请日：2016-11-28
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01B11/00
摘要： 本发明公开了一种用于激光跟踪仪检测U型盒体内壁的测量工具，其特征在于：包括有Z型基座、销杆型测针、T型销底座以及目标靶球，所述的Z型基座为Z字型，其底工作面、左侧工作面、顶工作面为精密加工面，底工作面与顶工作面平行，侧工作面垂直于底工作面，Z型基座的左侧面加工有一列等间距侧面销孔，侧面销孔中心线垂直左侧工作面，顶工作面加工有两个顶部销孔，顶部销孔中心线垂直顶工作面；所述的销杆型测针一端加工为销杆、另一端加工为圆锥尖、中间加工有限位面。本发明解决了激光跟踪仪在测量深U型盒体内壁时的光线遮挡无法测量的难题，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN111692976A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010512927.9
申请日：2020-06-08
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明公开了一种温度形变自补偿的数显长度基准装置，包括基准尺、多个温度采集探头，数据处理模块、数字显示屏；尺体设有多个供仪器校准使用的靶标底座锥形孔，同时在基准尺体设有用于放置温度采集探头的孔位；所述温度采集探头一端通过传输线与数据处理模块连接，另一端安装在基准尺探头孔位中并确保与孔壁贴合；所述的数据处理模块，将相邻两个温度采集探头之间采集的温度信号转换为长度补偿数据，从而获得现场工况温度下的基准尺在补偿后实际长度，并显示在数字显示屏上。本发明可以有效解决在现场工况下因基准尺的材料温度、环境温度变化以及温度梯度不一致而引起的基准误差，为仪器现场校准提供高精度的基准长度，从而保障和提高现场测量精度。
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公开(公告)号：CN108267089A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201810065179.7
申请日：2018-01-23
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明涉及利用激光跟踪仪测量大型环状物体的基准网，主要用于降低在生产制造、装配现场长时间测量大尺寸环状物体过程中，因小温度漂移导致的测量误差。本发明的基准网的基准柱以石英棒为柱体；基准网主体由一个位于环状物体内部的中心基准立柱和数个安装在环状物体外周的边界基准立柱组成。基准立柱顶部和纵向侧边安装有3～4个基准点，边界基准立柱的基准点朝向中心基准立柱的基准点。本发明能有效解决ITER PF6线圈绕制生产现场以及其他大尺寸装置设备生产装配现场环境因素复杂、长时间测量基准漂移的难题，为生产和装配现场长期测量提供了稳定、可靠的基准，提高了测量的精度。
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