基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置

    公开(公告)号:CN118347989A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410367867.4

    申请日:2024-03-28

    摘要: 本发明提供一种基于阵列器件的光谱物质成分分析方法及装置,其方法包括:获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件的阵列光谱c(k);获取待测样品光谱r(k)经过阵列器件中每一个单元器件的单元光谱di(k)和探测强度b′i;基于所述阵列光谱c(k)、所述单元光谱di(k)和所述探测强度b′i反演计算得到所述待测光谱r(k),并根据所述待测光谱r(k),确定所述待测样品的元素成分定量比例。本发明通过加载待测样品信号光经过阵列器件中不同单元器件后对应的单元光谱di(k)和探测强度b′i,并结合待测样品信号光通过阵列器件后对应的阵列光谱c(k),形成针对的信号处理方程组,用于反演计算得到待测光谱r(k),使得基于待测光谱r(k)计算得到的待测元素的定量比例也更加精准。

    一种抑制热效应的激光增益介质构型

    公开(公告)号:CN117748277A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311602196.7

    申请日:2023-11-28

    IPC分类号: H01S3/08 H01S3/00 H01S3/10

    摘要: 本发明提供一种抑制热效应的激光增益介质构型,包括沿激光传播方向依次键合连接的第五增益晶体、第三键合材料层、第三90°旋光片、第四键合材料层和第六增益晶体;第五增益晶体和第六增益晶体的键合端面均为球面,第五增益晶体的键合端面的焦点和第六增益晶体的键合端面的焦点重合并且均位于激光增益介质构型的中心点,第三键合材料层沿其中心轴向设有第三通孔,第四键合材料层沿其中心轴向设有第四通孔。当激光穿过激光增益介质构型时,可以使第五增益晶体上各点的径向和切向上的两个偏振分量在第六增益晶体中逐点互换,使得通过整个激光增益介质构型后的径向和切向产生的相位差之和为零,可以使单个激光放大器对其自身进行热退偏补偿。