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公开(公告)号：CN101344453A
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200810118975.9
申请日：2008-08-27
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明一种螺旋线行波管高频特性测量装置，由运动单元、数据采集单元、中心控制单元构成；中心控制单元安装了控制部，实现了中心控制单元、运动单元、数据采集单元之间的通讯。运动单元在中心控制单元的控制下实现了测量中的位置校准和运动，避免了人为手动校准的误差，提高了测量的精度；数据采集单元在中心控制单元的控制下完成参数的设置和数据的传输，无需人为操作矢量网络分析仪，大大提高了测量的效率；中心控制单元可对采集的数据直接进行处理，而无需将其导入其他软件处理。本发明的测量装置提高了螺旋线行波管高频特性测量的精度和效率，解决了以往此类测量装置精度不高、效率低下的问题。
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公开(公告)号：CN102901867B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201110212567.1
申请日：2011-07-27
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01R21/02
摘要： 本发明公开了一种单独热路热敏式太赫兹功率探头，涉及电磁波功率测量技术，包括太赫兹波导、功率敏感体和热沉基座三部分，功率敏感体是核心，由太赫兹功率吸收器、热路支撑体、两个热敏传感器组成。太赫兹电磁波通过法兰或转接器进入太赫兹波导，被位于该波导内的太赫兹功率吸收器吸收并转化为热量，这热量一边把太赫兹功率吸收器本身加热，一边通过热路支撑体向热沉基座方向传导，使得位于热路支撑体两个不同位置上的两个热敏传感器，测量出它们所处位置之间的温度差。在达到热平衡的条件下，该温度差与太赫兹电磁波功率成正比。通过向第一热敏传感器注入电功率的方式对功率探头定标。本发明的太赫兹功率探头，解决了太赫兹波的功率测量问题。
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公开(公告)号：CN103675888A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201210319680.4
申请日：2012-08-31
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01T1/29
摘要： 本发明提供了一种法拉第筒探头，该法拉第筒探头包括：中空外筒；小孔栅片，通过固定螺帽固定于中空外筒的一端，其中部开小孔；石墨收集极，其前端开口正对小孔栅片的小孔，其后端连接至信号引线的前端；中空接头，固定于中空外筒的远离所述小孔栅片的一端，在其中空部设置朝向中空外筒内侧的台阶；陶封引线，其陶质绝缘部具有一肩部，该肩部抵接于中空接头中空部的台阶，其引线部的一端与信号引线的末端相连接，另一端伸入中空接头外；绝缘陶瓷管，套设于中空外筒内，石墨收集极和信号引线外。本发明法拉第筒探头可以方便地对小孔栅片进行安装和拆卸。
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公开(公告)号：CN103021770A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201110282800.3
申请日：2011-09-22
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明公开了一种内反馈式太赫兹行波管振荡器，涉及太赫兹电磁波源技术，以行波管为基础，引入反馈机制构成振荡器。结构与现有行波管差别在于：1.在其输入端口增加一个调谐装置，该装置为一个可变短路器；2.以特殊方法设计输出端口，使其在工作频带内具有一定的反射，该反射系数为0.2左右。本发明的振荡器，在结构内部引入一个电磁波的反馈回路，在电磁波经反馈回路的相移为2π的整数倍，且慢波结构提供足够增益的条件下，器件发生振荡，输出一个或几个特定频率的电磁波。由于调谐装置可以通过机械调谐等方法在反馈回路中引入相移变化，起振电磁波的频率将会跟着变化以满足反馈回路总相移为2π的整数倍的条件，从而实现可调谐特性。
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公开(公告)号：CN102655068A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201110050042.2
申请日：2011-03-02
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： H01J9/00
摘要： 本发明公开了一种双排矩形梳状慢波结构的制造方法，涉及真空电子器件技术，其包括步骤：A)依据要求制造上矩形梳结构、下矩形梳结构和管壳，备用；B)把下矩形梳结构由上开口挤塞进入管壳内；C)再把上矩形梳结构由上开口挤塞进入管壳内；D)使上、下矩形梳结构与管壳内壁紧贴连；E)将上、下矩形梳结构的上下端面与管壳的上下端固接，得所需的双排矩形梳状慢波结构。本发明制造的双排矩形梳状慢波结构可用于微波、毫米波、亚毫米波乃至THz行波管、返波管和分布作用速调管(EIK)等。
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公开(公告)号：CN103675889B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201210319749.3
申请日：2012-08-31
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01T1/29
摘要： 本发明提供了一种电子注分布分析的设备及方法。该电子注分布分析设备包括：真空室；电子枪组件，位于真空室内，固定于真空室上部的上法兰盘，与测试电源相连接，其在测试电源的脉冲激励下，垂直向下发射电子束；移动平台，位于真空室外，通过真空室下部的下法兰盘与真空室(3)密封连接；以及测量探头，位于真空室内，通过支撑杆连接于移动平台，其方向垂直于移动平台，其在当前位置点对电子枪组件发射的电子束进行测量；采样系统，位于真空室外，与测量探头的输出信号线相连接，其对测量探头测量的电信号进行采样。本发明电子注分布分析的设备采用立式结构，可以有效避免采用卧式结构探头由于重力影响出现的下摆以及抖动偏差。
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公开(公告)号：CN102901867A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201110212567.1
申请日：2011-07-27
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01R21/02
摘要： 本发明公开了一种单独热路热敏式太赫兹功率探头，涉及电磁波功率测量技术，包括太赫兹波导、功率敏感体和热沉基座三部分，功率敏感体是核心，由太赫兹功率吸收器、热路支撑体、两个热敏传感器组成。太赫兹电磁波通过法兰或转接器进入太赫兹波导，被位于该波导内的太赫兹功率吸收器吸收并转化为热量，这热量一边把太赫兹功率吸收器本身加热，一边通过热路支撑体向热沉基座方向传导，使得位于热路支撑体两个不同位置上的两个热敏传感器，测量出它们所处位置之间的温度差。在达到热平衡的条件下，该温度差与太赫兹电磁波功率成正比。通过向第一热敏传感器注入电功率的方式对功率探头定标。本发明的太赫兹功率探头，解决了太赫兹波的功率测量问题。
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公开(公告)号：CN103675889A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201210319749.3
申请日：2012-08-31
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01T1/29
摘要： 本发明提供了一种电子注分布分析的设备及方法。该电子注分布分析设备包括：真空室；电子枪组件，位于真空室内，固定于真空室上部的上法兰盘，与测试电源相连接，其在测试电源的脉冲激励下，垂直向下发射电子束；移动平台，位于真空室外，通过真空室下部的下法兰盘与真空室(3)密封连接；以及测量探头，位于真空室内，通过支撑杆连接于移动平台，其方向垂直于移动平台，其在当前位置点对电子枪组件发射的电子束进行测量；采样系统，位于真空室外，与测量探头的输出信号线相连接，其对探测探头测量的电信号进行采样。本发明电子注分布分析的设备采用立式结构，可以有效避免采用卧式结构探头由于重力影响出现的下摆以及抖动偏差。
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公开(公告)号：CN101344453B
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200810118975.9
申请日：2008-08-27
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明一种螺旋线行波管高频特性测量装置，由运动单元、数据采集单元、中心控制单元构成；中心控制单元安装了控制部，实现了中心控制单元、运动单元、数据采集单元之间的通讯。运动单元在中心控制单元的控制下实现了测量中的位置校准和运动，避免了人为手动校准的误差，提高了测量的精度；数据采集单元在中心控制单元的控制下完成参数的设置和数据的传输，无需人为操作矢量网络分析仪，大大提高了测量的效率；中心控制单元可对采集的数据直接进行处理，而无需将其导入其他软件处理。本发明的测量装置提高了螺旋线行波管高频特性测量的精度和效率，解决了以往此类测量装置精度不高、效率低下的问题。
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