公开(公告)号：CN118294728A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202410423015.2

申请日：2024-04-09

申请人： 中国科学院电工研究所 ,  国网上海市电力公司

发明人： 张瑾 ,  金昊 ,  舒红梅 ,  曹博源 ,  杨心刚 ,  王爽

IPC分类号： G01R27/26 ,  G01R31/26 ,  H02M3/07 ,  H02M1/00

摘要： 本发明公开了一种半导体杂散电感测试电路及控制方法，测试电路由直流电源Vdc、支撑电容Cdc、辅助开关管QU、辅助二极管DL、负载电感Lload和单管型被测器件DUT‑s组成；本发明通过将被测件的控制电极施加恒定正电压，使其始终保持正向导通状态，再通过串联一个辅助二极管阻断了被测件内部的反向通流路径，从而使电流从被测件的正向流通，实现了对被测件正向回路内部杂散电感的测量，克服了现有技术只能测量反向回路杂散电感的不足，可以给IGBT芯片或MOSFET芯片的瞬态过程分析，提供更精确的杂感测量数据。