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公开(公告)号：CN113048899A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110611414.8
申请日：2021-06-02
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明提供一种基于线结构光的厚度测量方法和系统，该方法获取线结构光照射的目标物体的目标图像；将目标图像输入至语义分割模型，得到语义分割模型输出的目标图像中的第一光条线段、第二光条线段和第三光条线段的概率图，第二光条线段位于第一光条线段与第三光条线段之间，第二光条线段位于目标图像中的目标物体表面；基于第一光条线段、第二光条线段和第三光条线段的概率图以及目标图像，确定目标物体的厚度，该方法能增加激光线在复杂背景图像中的显著性，通过对投射在复杂目标物体上的激光线的关键线段或点的提取，减少了与测量无关的激光线形态变化对最终结果的影响，使测量得到的目标物体的厚度更加准确，能够应用在纹理更加复杂的场景中。
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