公开(公告)号：CN105444998B

公开(公告)日：2017-12-05

申请号：CN201510940730.4

申请日：2015-12-15

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 薛勋 ,  赵建科 ,  胡丹丹 ,  张洁 ,  郭毅 ,  昌明 ,  刘尚阔 ,  王争锋 ,  李坤 ,  李晶 ,  曹昆 ,  马小龙 ,  陈永权 ,  段亚轩 ,  田留德 ,  潘亮 ,  赛建刚 ,  周艳 ,  高斌 ,  薛斌 ,  徐亮 ,  刘峰

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明属于光学检测领域，具体涉及一种望远系统视放大率测量装置及测量方法，该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪；激光平面干涉仪位于被测望远系统的物方端；一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面平面镜的另一侧安装一号双坐标自准直仪；二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统的像方端，二号双面平面镜的另一侧安装二号双坐标自准直仪。本发明将传统放大倍率测量方法中的以像高、物高进行计算的方法转化为对角度的精确测量，从线量到角量的转化，使得测试精度与重复性大大提高。

公开(公告)号：CN101344645A

公开(公告)日：2009-01-14

申请号：CN200810018269.7

申请日：2008-05-22

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 陈立武 ,  赵葆常 ,  杨建峰 ,  马小龙 ,  常凌颖 ,  贺应红 ,  薛斌

IPC分类号： G02B27/58 ,  G01C11/00 ,  G01S17/89

摘要： 本发明涉及一种光学成像方法及设备，包括子孔径成像系统(1)，沿光路设置的子孔径准直镜(3)、反射镜(4)、多子孔径光束合成反射镜(5)、准直镜(7)、剪切干涉仪(8)、相干成像镜(9)以及CCD像面(10)。其解决了背景技术中成像技术复杂以及成像设备体积、重量大、成本高的技术问题。本发明中应用了具有高效分光特性的剪切干涉仪，具有分辨率高的优点。

公开(公告)号：CN105444998A

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201510940730.4

申请日：2015-12-15

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 薛勋 ,  赵建科 ,  胡丹丹 ,  张洁 ,  郭毅 ,  昌明 ,  刘尚阔 ,  王争锋 ,  李坤 ,  李晶 ,  曹昆 ,  马小龙 ,  陈永权 ,  段亚轩 ,  田留德 ,  潘亮 ,  赛建刚 ,  周艳 ,  高斌 ,  薛斌 ,  徐亮 ,  刘峰

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明属于光学检测领域，具体涉及一种望远系统视放大率测量装置及测量方法，该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪；激光平面干涉仪位于被测望远系统的物方端；一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面平面镜的另一侧安装一号双坐标自准直仪；二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统的像方端，二号双面平面镜的另一侧安装二号双坐标自准直仪。本发明将传统放大倍率测量方法中的以像高、物高进行计算的方法转化为对角度的精确测量，从线量到角量的转化，使得测试精度与重复性大大提高。

公开(公告)号：CN101344645B

公开(公告)日：2012-02-01

申请号：CN200810018269.7

申请日：2008-05-22

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 陈立武 ,  赵葆常 ,  杨建峰 ,  马小龙 ,  常凌颖 ,  贺应红 ,  薛斌

IPC分类号： G02B27/58 ,  G01C11/00 ,  G01S17/89

摘要： 本发明涉及一种高分辨率光学成像方法及设备，包括子孔径成像系统(1)，沿光路设置的子孔径准直镜(3)、反射镜(4)、多子孔径光束合成反射镜(5)、准直镜(7)、剪切干涉仪(8)、相干成像镜(9)以及CCD像面(10)。其解决了背景技术中成像技术复杂以及成像设备体积、重量大、成本高的技术问题。本发明中应用了具有高效分光特性的剪切干涉仪，具有分辨率高的优点。

公开(公告)号：CN205300896U

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201521050473.9

申请日：2015-12-15

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 薛勋 ,  赵建科 ,  胡丹丹 ,  张洁 ,  郭毅 ,  昌明 ,  刘尚阔 ,  王争锋 ,  李坤 ,  李晶 ,  曹昆 ,  马小龙 ,  陈永权 ,  段亚轩 ,  田留德 ,  潘亮 ,  赛建刚 ,  周艳 ,  高斌 ,  薛斌 ,  徐亮 ,  刘峰

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本实用新型属于光学检测领域，具体涉及一种望远系统视放大率测量装置，该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪；激光平面干涉仪位于被测望远系统的物方端；一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面平面镜的另一侧安装一号双坐标自准直仪；二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统的像方端，二号双面平面镜的另一侧安装二号双坐标自准直仪。本实用新型将传统放大倍率测量方法中的以像高、物高进行计算的方法转化为对角度的精确测量，从线量到角量的转化，使得测试精度与重复性大大提高。

公开(公告)号：CN201203714Y

公开(公告)日：2009-03-04

申请号：CN200820029171.7

申请日：2008-05-22

申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所

发明人： 陈立武 ,  赵葆常 ,  杨建峰 ,  马小龙 ,  常凌颖 ,  贺应红 ,  薛斌

IPC分类号： G02B27/58 ,  G01S17/89

摘要： 一种高分辨率光学成像装置，包括子孔径成像系统(1)，沿光路设置的子孔径准直镜(3)、反射镜(4)、多子孔径光束合成反射镜(5)、准直镜(7)、剪切干涉仪(8)、相干成像镜(9)以及CCD像面(10)，所述子孔径成像系统(1)包括子孔径主反射镜(101)和子孔径次反射镜(102)，所述剪切干涉仪(8)包括上、下两部分，所述上、下部分均由一个五角棱镜和一等腰棱镜胶合而成，所述胶合部位构成一胶合面，所述胶合面的表面设有分束膜，所述上、下部分中心对称设置，所述上、下部分之间设有分界面(804)。其解决了成像技术复杂以及成像设备体积、重量大、成本高的技术问题。具有等光程相干剪切的优点等。