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公开(公告)号：CN115326211B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202210604191.7
申请日：2022-05-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 为了提升现有的哈特曼波前传感器的测量精度，本发明提供了一种哈特曼波前传感器标定方法。本发明使用哈特曼波前传感器测量大小已知的光波面，根据探测器采集到的光斑图的分布情况，标定出微透镜阵列与探测器靶面之间的位置关系以及微透镜的各参数。为进一步提高波前测试精度，在完成哈特曼波前传感器参数标定后，使用平面波标定哈特曼波前传感器，计算光斑图从而得出本底坐标。本发明标定装置结构简单，成本低廉，标定精度高，标定方法易于实现，可进行推广使用。
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公开(公告)号：CN110375677B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN201910654854.4
申请日：2019-07-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种相机探测器指向和焦面组件安装面夹角的检测装置及方法，包括：测试组件和数据处理组件；所述测试组件包括待测相机探测器感光面和焦面组件安装面朝上放置于所述测试平台上，所述Y轴轨道位于所述测试平台的一侧端面；所述移动杆能够通过所述X轴轨道与所述Z轴轨道在XZ平面上移动；所述显微测量单元能够对待测相机探测器感光面和焦面组件安装面进行清晰成像；该装置对待测相机探测器感光面和焦面组件安装面进行采点、拟合，即可求出两者的夹角值以及夹角方向，反应了焦面组件中的探测器指向和光学系统光轴之间的夹角，将测试光学指标的过程转换为机械尺寸测试；该装置结构简单、易于操作，检测结果精度高、误差小，适应性好。
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公开(公告)号：CN113949443B
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202111153530.6
申请日：2021-09-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H04B10/07 , H04B10/075
Abstract: 本发明提供一种激光通信测试系统的高精度快速装调方法，主要解决现有激光通信测试系统的装调存在装调过程繁琐、装调效率低、装调精度低问题。本发明装调方法将系统难于找光轴、光轴转换误差大的问题巧妙的通过十字丝法和双面平面反射镜法简单化，通过五棱镜法大幅降低了分光镜的装调难度。同时，本发明装调方法中的光轴转换均是通过自准或者4d激光干涉仪5的方法进行处理，装调精度较高。
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公开(公告)号：CN111811430B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202010710573.9
申请日：2020-07-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 为了解决现有的低温环境下光学元件面形的测试方法受限于干涉仪口径以及真空容器窗口玻璃变形会引入测试误差的技术问题，本发明提供了一种能够准确、可靠、便于操作的低温环境下光学元件面形测量装置及方法。光学元件面形测量装置包括波前传感器、平行光管、真空容器；平行光管上设有窗口玻璃，真空容器内设有温控罩，温控罩上设有液氮热沉；温控罩和液氮热沉共同向待测光学元件提供设计要求的低温环境；平行光管与真空容器密封连接，共同形成密封腔体；波前传感器位于真空容器外，其位置与平行光管上的窗口玻璃相对应；波前传感器既能输出光束，又能探测到从窗口玻璃出射的光束。本发明相比于传统干涉测量方法，抗气流和抗振动能力强。
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公开(公告)号：CN119509918A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411468715.X
申请日：2024-10-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法，解决了现有的焦距检测方法检测重复精度低、精确度差且不适用于长焦距光学系统的的问题。本发明通过使用分光棱镜分光的办法，将光学系统返回光的光斑聚焦在成像清晰的探测器上，代替常规检测方法对玻罗板像的观瞄，调节平面反射镜的偏摆角度，分别记录光斑的移动位置和平面反射镜的偏摆角度，后续通过图像处理准确计算出光斑的移动量，进而计算出光学系统的焦距。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116337411A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310055943.3
申请日：2023-01-13
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 中国人民解放军63768部队
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学系统的波前测量装置及方法，具体涉及一种大口径光学系统的原位波前测量装置及方法，解决了现有大口径光学系统的波前测量装置制造难度大、成本高，或者测量时对测量环境要求严格的技术问题。本发明提供的大口径光学系统的原位波前测量装置及方法利用小口径光管组成的平行光管阵列测量局部波前，再利用得到的局部波前数据进行拟合，以实现大口径光学系统的波前原位测量，无需加工难度大、价格高昂的测量装置，在任何环境下都可进行测量；并且在测量前和测量中调整平行光管阵列中光管的指向，可减小平行光管阵列指向性误差，保证测量结果的准确性，测量装置加工难度小、成本低廉、测量精度高。
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公开(公告)号：CN112713932B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202011519591.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H04B10/11 , H04B10/077 , H04B10/291 , G02B27/62
Abstract: 本发明属于光学装调领域，涉及一种激光通信终端光路中继单元装检系统及基于其的检测方法，解决现有测试系统无法区分中继光路各支路发射、接收光束的同轴度的问题，系统包括沿光路依次设置的收发准直模块、转动模块和接收判读模块；收发准直模块用于发射准直光束，并接收经由接收判读模块的反射光线并进行判读；转动模块用于安装被测中继单元，实现被测中继单元中各支路的指向调节；接收判读模块用于接收、判读并反射被测中继单元的输出光束；利用本发明方法可实现激光通信终端中继单元的快速、高效装调集成，完成中继单元发散角、同轴度等指标的检测。
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公开(公告)号：CN111912534B
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN202010739537.5
申请日：2020-07-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 为了解决现有的光学系统波前测量方案易受环境扰动影响、探测精度较低的技术问题，本发明提供了一种光学系统波前测量装置及方法。本发明首先设计出一种拼接式分光棱镜实现对光学系统焦面附近的光束分光，在分光棱镜后安装探测器组成波前探测装置；该波前探测装置仅用一次拍摄便可获得光学系统的焦面像、焦前像和焦后像；在获取图像后，使用基于角谱传播的一种迭代方法便可获取系统的波前。本发明抗振能力强，受气流扰动等的影响小，且结构简单，成本低廉，有较高的动态范围和测量精度。
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公开(公告)号：CN112713932A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011519591.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H04B10/11 , H04B10/077 , H04B10/291 , G02B27/62
Abstract: 本发明属于光学装调领域，涉及一种激光通信终端光路中继单元装检系统及基于其的检测方法，解决现有测试系统无法区分中继光路各支路发射、接收光束的同轴度的问题，系统包括沿光路依次设置的收发准直模块、转动模块和接收判读模块；收发准直模块用于发射准直光束，并接收经由接收判读模块的反射光线并进行判读；转动模块用于安装被测中继单元，实现被测中继单元中各支路的指向调节；接收判读模块用于接收、判读并反射被测中继单元的输出光束；利用本发明方法可实现激光通信终端中继单元的快速、高效装调集成，完成中继单元发散角、同轴度等指标的检测。
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公开(公告)号：CN110375677A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910654854.4
申请日：2019-07-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种相机探测器指向和焦面组件安装面夹角的检测装置及方法，包括：测试组件和数据处理组件；所述测试组件包括待测相机探测器感光面和焦面组件安装面朝上放置于所述测试平台上，所述Y轴轨道位于所述测试平台的一侧端面；所述移动杆能够通过所述X轴轨道与所述Z轴轨道在XZ平面上移动；所述显微测量单元能够对待测相机探测器感光面和焦面组件安装面进行清晰成像；该装置对待测相机探测器感光面和焦面组件安装面进行采点、拟合，即可求出两者的夹角值以及夹角方向，反应了焦面组件中的探测器指向和光学系统光轴之间的夹角，将测试光学指标的过程转换为机械尺寸测试；该装置结构简单、易于操作，检测结果精度高、误差小，适应性好。
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