基于多工作模式低资源占用率的数据处理系统

    公开(公告)号:CN115170382A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210794336.4

    申请日:2022-07-07

    摘要: 基于多工作模式低资源占用率的数据处理系统,涉及CMOS探测器应用技术领域,解决现有线阵CMOS探测器实现高行频工作过程中,存在占用较多的逻辑资源,导致出现资源占用率过高等问题,本发明的数据处理系统,对于所有的全色谱段图像数据,仅使用一个写使能和写地址;多光谱谱段使用另一个写使能和写地址;同时相应的乘法操作使用乘法器资源来实现;缓存的数据地址区域是连续递增排布而非留出间隔区域,可大大降低逻辑资源的使用。对于每行的写操作首地址,采用集成的乘法器实现而非使用逻辑资源,进一步降低资源占用率。

    一种基于同步字的串行图像数据训练系统

    公开(公告)号:CN113179359B

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202110427711.7

    申请日:2021-04-21

    IPC分类号: H04N5/04 H04N5/374

    摘要: 一种基于同步字的串行图像数据训练系统,涉及CMOS图像传感器的训练系统,解决现有由于CMOS探测器的温度变化较大或热控措施不能保证探测器在小的温度范围内变化,导致在成像过程中出现由于温漂而出现图像出现乱码现象的问题,该系统包括成像探测器、驱动和控制电路、成像控制器、存储器和数传接口电路;成像控制器产生的驱动和控制信号,经驱动和控制电路后,送入成像探测器;成像探测器输出的数字图像数据,经成像控制器处理后,经数传接口电路输出;包括空闲阶段、基于伴随时钟的位校正阶段、基于伴随时钟的字校正阶段、基于同步字的通道校正阶段以及训练结果的写入阶段;本发明可以适应大范围温度变化,不需要专门进行动态训练。

    一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法

    公开(公告)号:CN111586324B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202010445752.4

    申请日:2020-05-25

    摘要: 一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法,涉及CMOS图像数据的训练方法,解决现有CMOS图像数据训练方法无法满足线阵TDI探测器推扫成像的连续行周期调整应用要求的问题,包括CMOS数据训练系统,主要包含CMOS图像传感器和数据处理器两部分组成。数据处理器内部包含iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、控制异步FIFO、gearbox、ram based shifer和控制器组成。控制器作为CMOS数据训练系统的核心,控制各部分协调工作。CMOS图像传感器在控制器的控制下,输出串行图数据经iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、gearbox、ram based shifer最终转换为位宽p的并行图像数据。本发明提出基于可控移位寄存器的改进训练方法,保证单脉冲训练字的正确性,同时保证行周期的连续可调性。

    一种多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制方法

    公开(公告)号:CN111510647B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN202010341988.3

    申请日:2020-04-27

    IPC分类号: H04N5/355 H04N5/3745

    摘要: 一种多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制方法,涉及多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制技术领域,解决现有多谱段TDI图像传感器的电荷转移存在图像的干扰,同时存在全色和多光谱之间的谱段干扰,在控制器内部存在多组的乘法和除法运算,存在占用的资源大或实时性差以及对不同行周期进行编码,对各跳变沿位置进行映射,存在操作复杂等问题,本发明提出将探测器全色的最小行周期对应的最小像素时钟个数为2的整数次幂,在实时计算行周期长度时不需要进行除法运算,仅需要乘法运算后截取高位数据。将各部分进行分区,统计各区域的跳变沿位置,然后进行编码。通过对全色的最小行周期的限定,保证敏感区域内尽可能少的跳变沿位置,减小存储寄存器的使用量。

    一种基于同步字的串行图像数据训练系统

    公开(公告)号:CN113179359A

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN202110427711.7

    申请日:2021-04-21

    IPC分类号: H04N5/04 H04N5/374

    摘要: 一种基于同步字的串行图像数据训练系统,涉及CMOS图像传感器的训练系统,解决现有由于CMOS探测器的温度变化较大或热控措施不能保证探测器在小的温度范围内变化,导致在成像过程中出现由于温漂而出现图像出现乱码现象的问题,该系统包括成像探测器、驱动和控制电路、成像控制器、存储器和数传接口电路;成像控制器产生的驱动和控制信号,经驱动和控制电路后,送入成像探测器;成像探测器输出的数字图像数据,经成像控制器处理后,经数传接口电路输出;包括空闲阶段、基于伴随时钟的位校正阶段、基于伴随时钟的字校正阶段、基于同步字的通道校正阶段以及训练结果的写入阶段;本发明可以适应大范围温度变化,不需要专门进行动态训练。

    多组TDI成像的摄像同步性控制系统

    公开(公告)号:CN112055157B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202010993503.9

    申请日:2020-09-21

    IPC分类号: H04N5/232 H04N5/225 H04N5/374

    摘要: 多组TDI成像的摄像同步性控制系统,涉及多组成像控制系统,解决现有多组TDI成像系统中,存在增加电缆和连接器的制造成本或存在软行周期长度的变化滞后硬行周期信号等问题,相机控制器通过菊花链结构的422总线经由底台对各成像组进行控制;对于每组成像组,输出独立的行周期信号经由底台进行摄像的同步控制;同时输出一组单端控制信号,经由底台分为n路后分发到n个成像组。在一组单端控制信号中,包含时序复位信号。底台上的时钟源经时钟分路器分为多路后,转换为差分信号送入n个成像组,形成n个同源时钟。本发明可实现各组的摄像同步性偏差在一个像素时钟范围内。

    一种位校正改进的串行CMOS图像数据训练方法

    公开(公告)号:CN112118441B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN202011000049.9

    申请日:2020-09-22

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 一种位校正改进的串行CMOS图像数据训练方法,涉及CMOS图像数据训练方法,解决现有高速串行通道进行图像数据的传输中,数据稳定的标准设置不正确,可能出现误判,导致检测出的跳变沿位置错误,引起数据采样位置错误,最终导致训练失败等问题,本发明通过对位校正循环周期长度的限定,保证每次进行数据稳定性检测时iodelay的设置延迟已经发挥作用而且状态已经稳定,避免出现误判或者处于不稳定的过渡阶段。通过对iodelay的延迟次数限定,保证即使仅检测出一个跳变沿位置,也能形成另1个虚拟的跳变沿位置,设置出稳定可靠的采样点位置。本发明避免在检测到第一个跳变沿后检测不到第二个有效的虚拟跳变沿而出现位校正的采样位置不正确。

    一种TDICMOS探测器的筛选测试方法

    公开(公告)号:CN109660790B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN201811535502.9

    申请日:2018-12-14

    IPC分类号: H04N17/00

    摘要: 一种TDICMOS探测器的筛选测试方法,涉及一种TDICMOS探测器的筛选测试系统,解决现有技术无法满足高空间分辨率的成像应用的问题,采用CTE和TDI两种工作模式结合的筛选测试方法。针对不同像素增益(电荷电压转换比)及PGA增益,不同温度和不同积分级数及单级积分时间长度下的暗电流将影响测试获得的满阱电荷数,从而获得的最大信噪比和动态范围是不同的,为准确的进行评估,在低温下采用短曝光时间进行暗噪声的测试,在恒定的低温下采用改变入射光能量的方式获得满阱电荷数;然后根据入射的光能量的等效光子数计算最大动态范围和信噪比的成像参数。

    基于空间应用的在轨刷新重注成像系统

    公开(公告)号:CN109522259B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201811338281.6

    申请日:2018-11-12

    IPC分类号: G06F13/40 G06F1/24

    摘要: 基于空间应用的在轨刷新重注成像系统,涉及一种在轨刷新重注成像系统,解决现有FPGA内部的逻辑单元在空间粒子的轰击下易出现逻辑翻转问题,本发明基于刷新芯片的在轨刷新重注成像系统,具备三种工作模式:FPGA直接从PROM加载,刷新芯片不工作;刷新芯片工作,FPGA间接加载PROM内存储的程序;刷新芯片工作,FPGA加载Flash内已经更新了成像。刷新芯片的串口由受刷新芯片控制的FPGA来进行控制;对于具备主备份的控制系统,采用外部的组合逻辑电路产生配置加载过程的控制信号,并对刷新芯片的管脚进行硬件配置。本发明通过刷新使能功能,在刷新芯片出现故障时可断开刷新电路,保证FPGA稳定可靠的工作。

    CMOS图像传感器串行图像数据训练的实时校正系统

    公开(公告)号:CN110753221B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201911126560.0

    申请日:2019-11-18

    摘要: CMOS图像传感器的串行图像数据训练的实时校正系统,涉及CMOS图像传感器的串行图像数据训练的实时校正系统,解决现有由于外部环境温度或者工作电压的变化,导致串行数据跳变沿相对位置发生变化,进而存在数据采样错误等问题,单片控制器内时序控制模块输出用于电荷转移的驱动时序信号和控制时序信号,分别经驱动器和电平转换器后,送入CMOS图像传感器;输出的串行图像数据,经训练模块控制的iodelay、iserdes和输出位置可控制的移位寄存器,转换为输出有效数据位置确定的稳定的并行数据,再经数据调理模块后输出满足应用要求的图像数据格式。本发明的实时校正系统通过在行消隐期间进行监测调整,可保证输出稳定可靠的图像,而且不会中断正常的摄像任务。