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公开(公告)号：CN116007906A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202310088215.2
申请日：2023-02-06
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及光学检测技术领域，具体地提出一种光学系统点扩散函数椭率测量方法。该方法通过平行光管和待测光学系统搭建星点目标成像光路，且同步在光学仿真软件中构建与实际光路光学参数一致的模拟光学系统，包含模拟平行光管和模拟待测光学系统，并在模拟系统中添加Zernike面。以实际成像光路实测得到的点扩散函数为目标，以添加的Zernike面为优化变量，通过智能优化算法不断迭代优化，直到模拟系统的点扩散函数特征参数与实测点扩散函数特征参数的差异小于设定阈值，停止优化。将最终优化得到的Zenrike面与模拟待测系统构成新系统，该新系统的点扩散函数椭率值就是实际待测系统的点扩散函数椭率。
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公开(公告)号：CN113252307B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110375444.3
申请日：2021-04-08
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明提供一种星载辐射定标方法及其装置，采用薄膜集光器在轨收集太阳发出的光束，分谱段聚焦至空间不同位置后，通过光纤束分为两路装卡定位到光纤定位与切换机构；通过光纤定位与切换机构切换绝对/相对辐射定标通道及模式，依据注入地面标定系数和轨道参数对应的太阳幅亮度，获得光学载荷绝对和相对定标系数。本发明提供的在轨辐射定标技术和装置方案不仅在微小光学遥感卫星技术领域具备应用潜力，还可应用于诸如海岸带观测成像光谱仪、海洋观测卫星、农林普查高光谱成像仪等传统中大型光学遥感卫星的在轨辐射定标，进一步提高光学载荷长期在轨辐射定标数据的准确性，提升定标灵活性。
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公开(公告)号：CN112902935A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110123142.7
申请日：2021-01-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01C15/00
摘要： 一种多功能测量基准器涉及光学精密机械测量技术领域，解决了现有过程繁琐、操作不便、精度低等问题，包括基准底座、反射镜面、角锥棱镜、摄影测量编码标识以及摄影测量点；基准底座包括安装面、第一表面、第二表面和第三表面，第一表面、第二表面和第三表面相互垂直；反射镜面至少为两个，其中两个反射镜面相互垂直，相互垂直的反射镜面用于经纬仪自准直；角锥棱镜、反射镜面、摄影测量编码标识以及摄影测量点均设置在基准底座除安装面外的表面上，基准底座上设有摄影测量点的表面也设有摄影测量编码标识，摄影测量编码标识用于标识摄影测量点所在表面。本发明稳定性测量准确度高，精密装调方便，测量和建立测量坐标系简捷。
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公开(公告)号：CN112902935B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110123142.7
申请日：2021-01-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01C15/00
摘要： 一种多功能测量基准器涉及光学精密机械测量技术领域，解决了现有过程繁琐、操作不便、精度低等问题，包括基准底座、反射镜面、角锥棱镜、摄影测量编码标识以及摄影测量点；基准底座包括安装面、第一表面、第二表面和第三表面，第一表面、第二表面和第三表面相互垂直；反射镜面至少为两个，其中两个反射镜面相互垂直，相互垂直的反射镜面用于经纬仪自准直；角锥棱镜、反射镜面、摄影测量编码标识以及摄影测量点均设置在基准底座除安装面外的表面上，基准底座上设有摄影测量点的表面也设有摄影测量编码标识，摄影测量编码标识用于标识摄影测量点所在表面。本发明稳定性测量准确度高，精密装调方便，测量和建立测量坐标系简捷。
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公开(公告)号：CN116540407B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202310822655.6
申请日：2023-07-06
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人： 罗敬
摘要： 本发明涉及光学设计领域，具体提供低偏振像差三反光学系统设计方法、系统、设备及介质，根据目标三反光学系统的要求确定自由设计参数的数目，并生成相应数目的随机数，根据赛德尔像差计算公式，以消除目标三反光学系统的初级球差、初级像散和初级彗差为目标，通过自由设计参数和多个方程确定剩余设计参数，根据高斯光学理论，得到目标三反光学系统中三块有光焦度反射镜的全部结构参数，将所有参数输入到光学设计软件中并计算得到目标三反光学系统的波像差和偏振像差，根据波像差和偏振像差构建评价函数，若评价函数不满足需求，则重新以随机数的形式生成新的自由设计参数，并再次计算评价函数，直到波像差和偏振像差均满足需求时完成设计。
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公开(公告)号：CN116540407A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310822655.6
申请日：2023-07-06
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人： 罗敬
摘要： 本发明涉及光学设计领域，具体提供低偏振像差三反光学系统设计方法、系统、设备及介质，根据目标三反光学系统的要求确定自由设计参数的数目，并生成相应数目的随机数，根据赛德尔像差计算公式，以消除目标三反光学系统的初级球差、初级像散和初级彗差为目标，通过自由设计参数和多个方程确定剩余设计参数，根据高斯光学理论，得到目标三反光学系统中三块有光焦度反射镜的全部结构参数，将所有参数输入到光学设计软件中并计算得到目标三反光学系统的波像差和偏振像差，根据波像差和偏振像差构建评价函数，若评价函数不满足需求，则重新以随机数的形式生成新的自由设计参数，并再次计算评价函数，直到波像差和偏振像差均满足需求时完成设计。
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公开(公告)号：CN111854713A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010749205.5
申请日：2020-07-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 一种可用于建立坐标系的测量基准器，属于光学及精密机械装调技术领域，解决了建立立方棱镜测量坐标系存在的效率低、操作不便、精度不足等问题。该基准器包括：模块底座、立方棱镜安装底座、立方棱镜、角锥棱镜安装底座和角锥棱镜；立方棱镜通过立方棱镜安装底座安装在模块底座上，角锥棱镜通过角锥棱镜安装底座安装在模块底座上，立方棱镜和角锥棱镜设置在模块底座的两端，保持立方棱镜与角锥棱镜相对位姿关系恒定，并使立方棱镜除安装面以外的表面的法线不被遮挡；本发明利用经纬仪和激光跟踪仪瞄准该标准器，无需拟合和计算，可以直接同时获得坐标轴朝向和坐标原点位置，进而建立坐标系，大幅度提高了装调精度和效率。
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公开(公告)号：CN118377147A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410808645.1
申请日：2024-06-21
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及空间光学技术领域，具体提供一种高对比度星点目标光源，包括：光源、光纤分束器、光纤衰减单元和分光镜，其中，光源的出射光通过光纤与光纤分束器连接，光纤分束器将出射光分束成两路光信号，对其中一路光信号进行衰减调制，再将两路光信号照射在分光镜的两个面上，分光镜按照自身对光透射率和反射率对两路光信号进行透射和反射，即可在分光镜的一侧获得2个光强不同的星点目标。本发明可同时模拟两个光强不同的星点目标，两个星点目标的光强比可以覆盖100~1012，完全满足在地面研制阶段进行星冕仪测试时对星点目标光强比的要求，并且可以根据需求调整两个星点目标的光强比。
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公开(公告)号：CN115638728A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211356210.5
申请日：2022-11-01
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明提供一种内螺纹孔装调基准测量装置及其测量方法，其中的测量装置包括基准板和基准柱，基准板与基准柱固定连接，在基准板上开设有至少两个基准孔和一个安装孔，安装孔不在任意两个基准孔之间的连线上，基准柱贯穿安装孔与基准板固定连接，在基准柱的两端分别开设有定位孔，在基准柱未贯穿安装孔的一端开设有用于与待测内螺纹孔配合的外螺纹。通过本发明可以精确、快速、便捷地确定内螺纹孔中心轴的朝向矢量，以及中径圆心点的坐标，从而完全确定内螺纹孔的空间位姿，大幅度提高含内螺纹孔组件的装调精度和效率。
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公开(公告)号：CN113281256B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202110605491.2
申请日：2021-05-31
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人： 罗敬
摘要： 本发明涉及一种穆勒矩阵的测量装置及其测量方法。穆勒矩阵的测量装置，包括起偏光路、检偏光路和传递光路，传递光路包括分光组件、第一透镜组、小孔光阑和平面反射镜。待测光学系统放置在传递光路中的小孔光阑和平面反射镜之间，并使得待测光学系统的焦点与第一透镜组的焦点重合，平面反射镜的口径大于待测光学系统的有效通光口径。穆勒矩阵的测量装置通过增加传递光路来实现对大口径、非平面的复杂光学系统偏振特性的测量。在该测量装置及其测量方法中，采用普通口径的偏振光学元件即可实现大口径复杂光学系统偏振特性的测量。本发明的自准直光路设计确保了光线均正入射到平面反射镜，减小了平面反射镜引入的测量误差，提高了测量精度。
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