一种三维光学测量方孔垂直差的方法

    公开(公告)号:CN107421440A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710283862.3

    申请日:2017-04-26

    IPC分类号: G01B11/00 G01B11/26

    CPC分类号: G01B11/00 G01B11/26

    摘要: 一种三维光学测量方孔垂直差的方法,它涉及一种测量方孔垂直差的方法,具体涉及一种三维光学测量方孔垂直差的方法。本发明为了解决拉刀试验件垂直差测量定位难,效率低,重复性难保证的问题。本发明的具体步骤为光学模式工件定位;光学模式建立工件坐标系;光学模式与探针模式切换:切换到探针模式;点击System图标,点击Change Sensor图标,选择Get Stylus,标准配置为1mm探针故选取1mm探针,将其安装到测头装置上;此时屏幕会出现一个探针的图像,代表切换成功;测量试验件的A、B、C、D四个平面;垂直差评价:选择评价模式,点击垂直差评价图标,选取被评价要素,将评价结果保存并生成TXT文件;最后将完成的测量及评价程序保存;光学引导探针实现自动测量。本发明属于机械领域。