可检测中性分子产物和离子产物的质谱装置及其操作方法

    公开(公告)号:CN105390364B

    公开(公告)日:2017-06-09

    申请号:CN201511001202.9

    申请日:2015-12-28

    IPC分类号: H01J49/26 G01N27/62

    摘要: 本发明提出了一种可检测中性分子产物和离子产物的质谱装置及其操作方法。可检测中性分子产物和离子产物的质谱装置包括一套四极杆串联特殊线性离子阱质量分析器、试剂分子导入离子阱精确控制系统、缓冲气流量导入精确控制系统、真空规、多级梯度真空系统、电控真空隔断阀系统、电子轰击源质谱系统等质谱装置必要部件。此外,本发明还提出了一种操作上述装置进行分子离子反应、精确测量分子离子反应的离子产物,产物中性分子抽取,中性分子电离、再分析离子的方法。

    一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法

    公开(公告)号:CN108493091A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201810194678.6

    申请日:2018-03-09

    IPC分类号: H01J49/14 H01J49/42 G01N27/64

    摘要: 本发明实施例提供了一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法,包括:电离室、电子入射栅网及低能电场组件;所述电离室,位于所述电子入射栅网内侧,用于容纳待测物分子与电子,所述电子轰击所述待测物分子进行电离;所述电子入射栅网,安装在所述电离室与所述低能电场组件之间,用于提高电子利用率;所述低能电场组件,安装在所述电子入射栅网外侧,用于生成低能电场。一种采用所述电离装置的质谱系统,以及采用了所述质谱系统的质谱方法。本发明可以有效减少待测物分子产生的碎片离子并提高电子利用率,从而在气体成分的检测中不需要再借助色谱。

    自动调节离子阱内气压的质谱装置及操作方法

    公开(公告)号:CN105185688A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201510532107.5

    申请日:2015-08-26

    IPC分类号: H01J49/26 G01N27/62

    摘要: 本发明公开了一种自动调节离子阱内气压的质谱装置,包括离子阱、用于检测离子阱内离子分离检测的检测器、缓冲气流量控制器、离子阱内真空测量计和自动调节阱内真空度的运算功能模块,缓冲气流量控制器与离子阱后端通过气体导管连通,离子阱内真空测量计与离子阱前端通过气体导管连通,运算功能模块分别与离子阱内真空测量计和缓冲气流量控制器通信连接。该自动调节离子阱内气压的质谱装置在离子注入存储阶段,增大缓冲气流量实现阱内高气压,有效降低注入离子的动能,之后有序降低缓冲气流量实现低气压,保证在离子分离检测阶段具有低气压获得最佳的检测环境。该质谱装置具有更好的离子存储效率、更佳的分析性能。

    一种串联质谱分析系统及分析方法

    公开(公告)号:CN118610066A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410648563.5

    申请日:2024-05-23

    摘要: 本发明涉及一种串联质谱分析系统及分析方法,包括四极杆质量分析器、两个离子存储装置、离子发射装置和离子检测装置,离子发射装置用于产生离子,并发射离子;第一离子存储装置将接收的离子发送给与其连接的四极杆质量分析器;四极杆质量分析器对接收的离子进行筛选,将筛选后的离子发送给第二离子存储装置;第二离子存储装置对筛选的离子进行逐出并返回至四极杆质量分析器和第一离子存储装置,得到碎片离子;碎片离子达到与第二离子存储装置连接的离子检测装置,进行检测。本发明使用单只高精度四极杆组合两个离子存储装置实现串联质谱分析,不仅具有体积小、成本低的优势,而且具有三重四极杆、离子阱两种质谱的优点。

    一种控制系统的测试装置及方法

    公开(公告)号:CN108919775B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201810597837.7

    申请日:2018-06-11

    IPC分类号: G05B23/02

    摘要: 本发明提供了一种控制系统的测试装置及方法,涉及测控技术领域,能够对控制系统的稳定性进行测试。该测试装置包括:第一电阻,所述第一电阻的两端分别连接至控制系统的输入接口和输出接口;第二电阻,所述第二电阻的第一端连接至所述控制系统的输入接口,所述第二电阻的第二端连接至可控电压源;所述可控电压源,连接至处理器;信号采集模块,用于采集所述第一电阻两端的电压差;所述处理器,用于根据所述第一电阻两端的电压差确定所述第一电阻的电流大小,以判断所述控制系统是否处于正常状态。本发明提供的技术方案适用对电子电离源控制系统的稳定性测试过程中。