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公开(公告)号：CN115793031A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211434469.7
申请日：2022-11-16
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明涉及X光机技术领域，具体地说是一种用于X光机能谱测量的限束调节装置，包括光阑与三维调节平台，三维调节平台包括底座、探测器固定装置、光阑固定装置和光阑旋转装置，将探测器和限束光阑作为一个整体，通过高精度三维调节装置实现光路、探测器和限束光阑的准直，通过改变限束光阑孔径大小调节X射线进入到探测器晶体的强度，降低死时间，提高探测效率和准确测量X射线能谱，解决了目前对于高通量X射线光机注量的准确测量问题，为测量得到的脉冲高度谱解谱为注量谱提供基础。
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公开(公告)号：CN115436984A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202211120478.9
申请日：2022-09-15
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提出一种低本底X射线辐射产生调节装置和方法，所述装置包括：光机、光机升降平台及辐射屏蔽箱，所述光机用于产生X射线，所述光机升降平台用于调节光机的高度以及与辐射屏蔽箱的距离，所述辐射屏蔽箱设立于所述光机外，通过所述过滤片吸收来自所述光机出射口的X射线，从而减小入射到辐射屏蔽箱的辐射剂量，最终实现产生低本底X射线辐射环境的目的。
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公开(公告)号：CN108196292B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201711472235.0
申请日：2017-12-29
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01T1/02
摘要： 本发明实施例涉及一种测量装置，测量装置包括：支撑板，支撑板包括相互连接的限位板和底板；一级光阑，通过固定板固定连接在限位板上；一个或多个次级光阑，设置于一级光阑的一侧；一个或多个光阑调节装置，设置在底板上，每个光阑调节装置固定一个次级光阑；光阑调节装置包括水平调节部、竖直调节部和光阑固定支架；水平调节部设在底板上，用于调节次级光阑的水平位置；竖直调节部与水平调节部相连，用于调节次级光阑的竖直高度；光阑固定支架与竖直调节部相连，用于固定次级光阑。本发明，扩大了该测量装置的适用范围，根据实验的具体需要能够随时更换孔径大小相对应的光阑，实现高度可调，可快速对准多个光阑的孔径中心，调节简单，使用方便。
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公开(公告)号：CN108196292A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711472235.0
申请日：2017-12-29
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01T1/02
CPC分类号： G01T1/02
摘要： 本发明实施例涉及一种测量装置，测量装置包括：支撑板，支撑板包括相互连接的限位板和底板；一级光阑，通过固定板固定连接在限位板上；一个或多个次级光阑，设置于一级光阑的一侧；一个或多个光阑调节装置，设置在底板上，每个光阑调节装置固定一个次级光阑；光阑调节装置包括水平调节部、竖直调节部和光阑固定支架；水平调节部设在底板上，用于调节次级光阑的水平位置；竖直调节部与水平调节部相连，用于调节次级光阑的竖直高度；光阑固定支架与竖直调节部相连，用于固定次级光阑。本发明，扩大了该测量装置的适用范围，根据实验的具体需要能够随时更换孔径大小相对应的光阑，实现高度可调，可快速对准多个光阑的孔径中心，调节简单，使用方便。
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公开(公告)号：CN118169734A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410148501.8
申请日：2024-02-02
申请人： 中国计量科学研究院 , 北京恒创嘉盛光电科技有限公司
摘要： 本发明涉及电离辐射场所的辐射测试技术领域，具体涉及一种电离辐射测试的旋转平台，包括升降装置及安装在升降装置上的旋转平台；旋转平台包括对称设置的支撑板、可拆卸安装的台面、安装在支撑板内侧的旋转装置及安装在支撑板侧边的驱动装置；通过定向改变被测物的仰俯角度，以实现在同一被测物的表面与发射装置之间产生微变位置差，以测得短距离辐射剂量率的差值，且能够根据实际测试角度需要手动或自动调整台面的角度，以实现台面的多角度安装。
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公开(公告)号：CN116774271A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310552205.X
申请日：2023-05-16
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供X射线半导体探测器的测量装置及测量方法，涉及设备性能测量技术领域，装置包括X射线产生系统和半导体探测器测试系统，X射线产生系统包括X射线光机、限束光阑组件、屏蔽箱体、快门装置、双盘过滤系统，双盘过滤系统包括双滤过盘和控制器，双滤过盘的过滤板孔位安装过滤片，控制器调节生成不同能量X射线，半导体探测器测试系统包括温度调节组件和气压模块，气压模块包括密闭室和气压调节组件，将半导体探测器放在密闭室后，调节密闭室的温度和气压，通过调节过滤片之间的组合生成不同能量X射线，装置操作简单，可以避免由于频繁调节温度气压或者更换辐射源导致测量条件改变的问题，可保证测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN113917514A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111296066.6
申请日：2021-11-03
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明涉及铅当量测量技术领域，具体地说是一种逆向宽束X射线铅当量测量方法与装置，用铅作为比较标准，把某种厚度某种材料的屏蔽效果与达到同种屏蔽效果的铅的厚度的表达，通过逆向宽束X射线的方式，计算出铅当量与衰减率的关系公式，以此对应材料厚度和衰减率的对应关系，同时简化测量流程，既考虑屏蔽材料对主射束的屏蔽衰减，又考虑射束射在材料上引起的散射和荧光成分所带来的额外辐射的屏蔽衰减，本发明为含铅、无铅等防护材料提供一个准确合理且全面的屏蔽性能评估。
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公开(公告)号：CN108195854A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711428433.7
申请日：2017-12-26
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测方法，检测方法包括：A、调节X光机、真空管和电离室的位置；B、开启X光机，测得第一电离电流I1；C、测量并记录真空管内的温度值T1和气压值P1；D、通过真空泵对真空管进行抽真空作业；E、在真空管被抽真空的状态下，测得第二电离电流I2；F、测量并记录抽真空后的真空管的温度值T2和气压值P2；G、根据温度值T1、气压值P1、温度值T2和气压值P2，得到抽真空前后的真空管内的空气质量厚度的改变量Δdm；H、根据第一电离电流I1、第二电离电流I2和空气质量厚度的改变量Δdm，计算得到X射线空气衰减系数μm。本发明，采用抽真空法测量X射线空气衰减系数，操作简单，实验数据精准可靠。
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公开(公告)号：CN211402763U
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN202020116640.X
申请日：2020-01-19
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本实用新型涉及高纯锗探测器标定装置，包括：套筒、旋转筒、支架装置和滑动装置；旋转筒与套筒的上表面活动连接，并且旋转筒和套筒同轴旋转；支架装置卡设在旋转筒上；滑动装置卡设在支架装置上；支架装置为半圆形；支架装置包括第一支架和第二支架；第一支架的两端分别与第二支架的两端固定连接；滑块具有第一滑动安装槽和第二滑动安装槽；滑动尺穿设于第二滑动安装槽内，并由螺丝固定；滑动尺的设置方向为半圆形的半径方向；固定架的上端固定连接滑动尺的下端，且固定架的下端固定连接铜盒；盒盖的一端与盒体的侧面活动连接；盒体的底面开设有通孔；滑块通过第一滑动安装槽设置在第二支架上，沿第二支架滑动。
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公开(公告)号：CN211402764U
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN202020123015.8
申请日：2020-01-19
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本实用新型涉及低本底屏蔽装置，包括第一屏蔽体、第二屏蔽体和第三屏蔽体；第一屏蔽体的两个侧面板上分别开设第一通孔和第二通孔；第一通孔的半径小于第二通孔的半径；第一通孔的圆心，第二通孔的圆心和第一屏蔽体的中心在一条水平线上；第二屏蔽体为圆筒状；第二屏蔽体的一端固定连接在第一通孔上；第二屏蔽体的内径与第一通孔的直径相同；第三屏蔽体为喇叭状，一端至另一端半径逐渐增大，并且一端固定连接在第二通孔上；一端的内径与第二通孔的直径相同；第一屏蔽体的前面板包括第一门体和第二门体；第一门体和第二门体分别与两个侧面板的边缘活动连接；且第一门体和第二门体闭合状态下呈密闭结构。
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